其他產(chǎn)品及廠家
emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc5 復(fù)位測(cè)試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。
更新時(shí)間:2025-09-25
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試mmc通過(guò)發(fā)cmd的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問(wèn)。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
更新時(shí)間:2025-09-25
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時(shí)間:2025-09-25
emmc4 , 復(fù)位測(cè)試 , clk測(cè)試 , dqs測(cè)試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫(xiě)均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:2025-09-25
相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試通俗的來(lái)說(shuō)，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:2025-09-25
emmc4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開(kāi)，屏蔽層焊接在被測(cè)電路地上，中心導(dǎo)體通過(guò)個(gè)隔直電容連接被測(cè)的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時(shí)間:2025-09-25
emmc 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試這是個(gè)典型的電源紋波測(cè)試的問(wèn)題。我們通過(guò)使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測(cè)試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:2025-09-25
emmc 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
更新時(shí)間:2025-09-25
emmc 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試電源紋波測(cè)試過(guò)大的問(wèn)題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長(zhǎng)的鱷魚(yú)夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開(kāi)關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2025-09-25
emmc 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤(pán)部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時(shí)間:2025-09-25
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時(shí)間:2025-09-25
mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試 mipi屏 初始化指令問(wèn)題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說(shuō)明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差，這個(gè)當(dāng)然可以理解，但是從大的方面來(lái)說(shuō)，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會(huì)變好，這樣畫(huà)面就比像素低的更加的細(xì)膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時(shí)間:2025-09-25
mipi clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過(guò)軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時(shí)間:2025-09-25
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過(guò)軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個(gè)data,依次，p3是個(gè)data.
更新時(shí)間:2025-09-25
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí)，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用，該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
更新時(shí)間:2025-09-25
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過(guò)的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤，可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
更新時(shí)間:2025-09-25
mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序：
更新時(shí)間:2025-09-25
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-09-25
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
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mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
更新時(shí)間:2025-09-25
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-09-25
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 mipi驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-09-25
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中，這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道，包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。
更新時(shí)間:2025-09-25
mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟，旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問(wèn)題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-09-25
插上pci-express板子 系統(tǒng)起不來(lái) 故障問(wèn)題分析 pcie wikipci express port bus driver support for linuxpcie driver development for exynos socdm81xx_am38xx_pci_express_e
更新時(shí)間:2025-09-25
pci-express 顯卡 信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 信號(hào)完整性測(cè)試。pci-express(peripheral component interconnect express)是種高速串行計(jì)算機(jī)擴(kuò)展總線標(biāo)準(zhǔn)，它原來(lái)的名稱為“3gio”，是由英特爾在2001年提出的，旨在替代舊的pci，pci-x和agp總線標(biāo)準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2025-09-25
pcie3.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試獲得的信號(hào)波形沒(méi)有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測(cè)試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測(cè)試才能發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會(huì)延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。
更新時(shí)間:2025-09-25
pcie3.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試deviceid和vendor id寄存器這兩個(gè)寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個(gè)廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時(shí)間:2025-09-25
pcie3.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)，工程師會(huì)按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過(guò)程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號(hào)出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時(shí)間:2025-09-25
pcie1.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代，工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
更新時(shí)間:2025-09-25
pcie1.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試ci總線定義了兩類配置請(qǐng)求，個(gè)是type00h配置請(qǐng)求，另個(gè)是type 01h配置請(qǐng)求。
更新時(shí)間:2025-09-25
pcie1.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來(lái)信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號(hào)幅度越來(lái)越低，對(duì)整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來(lái)越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來(lái)越來(lái)越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對(duì)信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時(shí)間:2025-09-25
pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試在個(gè)處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對(duì)差分信號(hào)，其中16對(duì)petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路，另外16對(duì)perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。
更新時(shí)間:2025-09-25
pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動(dòng)了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無(wú)時(shí)無(wú)刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來(lái)，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對(duì)業(yè)內(nèi)從業(yè)者來(lái)說(shuō)遇到的挑戰(zhàn)和問(wèn)題也就越來(lái)越嚴(yán)峻。
更新時(shí)間:2025-09-25
pcie 初始化完成后會(huì)進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見(jiàn)pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題- serdes電源問(wèn)題- 時(shí)鐘問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-09-25
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測(cè)試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時(shí)，pcie設(shè)備使用該信號(hào)向處理器系統(tǒng)提交喚醒請(qǐng)求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時(shí)間:2025-09-25
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過(guò)該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時(shí)間:2025-09-25
cie2.0 3.0 物理層致性測(cè)試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-09-25
遇到的問(wèn)題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫(xiě)正常，memory mapping空間讀寫(xiě)異常
更新時(shí)間:2025-09-25
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器：示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試，主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2025-09-25
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器：示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試，主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2025-09-25
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器：示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試，主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2025-09-25
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器：示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試，主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2025-09-25
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器：示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試，主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2025-09-25
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器：示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試，主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2025-09-25
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器：示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試，主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
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儀器儀表租售服務(wù)主要儀器：示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試，主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2025-09-25
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