孔徑/隙度分析儀產品及廠家
金埃譜科技是國內最早參與比表面積標準物質標定的機構,測試結果與國外數據可比性平行性最好,并獲取權威認證機構的檢測證書,同時金埃譜科技也是國內同行業中注冊資本規模最大,唯一通過iso9001質量認證的生產企業,雄厚實力和完善的質量及服務體系,讓您選購的產品無后顧之憂!
更新時間:2025-09-19
金埃譜科技是國內最早參與比表面積標準物質標定的機構,測試結果與國外數據可比性平行性最好,并獲取權威認證機構的檢測證書,同時金埃譜科技也是國內同行業中注冊資本規模最大,唯一通過iso9001質量認證的生產企業,雄厚實力和完善的質量及服務體系,讓您選購的產品無后顧之憂!
更新時間:2025-09-19
v-sorb 4800p是金埃譜科技自主研發的全自動智能化比表面積和孔徑測定儀器,采用靜態容量法測量原理,眾多著名科研院所及500強企業應用案例,相比國內同類產品,多項獨創技術的采用使產品整體性能更加完善,測試結果的準確性和一致性進一步提高,測試過程的穩定性更強,達到國際同類產品先進水平,部分功能超越國外產品.
更新時間:2025-09-19
金埃譜科技是國內最早參與比表面積標準物質標定的機構,測試結果與國外數據可比性平行性最好,并獲取權威認證機構的檢測證書,同時金埃譜科技也是國內同行業中注冊資本規模最大,唯一通過iso9001質量認證的生產企業,雄厚實力和完善的質量及服務體系,讓您選購的產品無后顧之憂!
更新時間:2025-09-19
測試方法及功能:氮吸附靜態容量法,吸附及脫附等溫線測定,bjh總孔體積及孔徑分析,樣品真密度測定,t-plot圖法微孔分析,mp法微孔分析,hk法微孔分析,bet法比表面積測定(單點及多點),langmuir法比表面積測定,平均粒徑估算,t－plot圖法外比表面積測定;
更新時間:2025-09-19
v-sorb 2800是金埃譜科技自主研發的全自動智能化比表面積和孔徑測定儀器,采用靜態容量法測量原理,眾多著名科研院所及500強企業應用案例,相比國內同類產品,多項獨創技術的采用使產品整體性能更加完善,測試結果的準確性和一致性進一步提高,測試過程的穩定性更強,達到國際同類產品先進水平,部分功能超越國外產品.
更新時間:2025-09-19
v-sorb 4800p是金埃譜科技自主研發的全自動智能化比表面積和孔徑測定儀器,采用靜態容量法測量原理,眾多著名科研院所及500強企業應用案例,相比國內同類產品,金埃譜比表面及孔徑檢測儀多項獨創技術的采用使產品整體性能更加完善,金埃譜比表面及孔徑檢測儀測試結果的準確性和一致性進一步提高,金埃譜比表面及孔徑檢測儀測試過程的穩定性更強,金埃譜比表面及孔徑檢測儀達到國際同類產品先進水平,
更新時間:2025-09-19
測試方法及功能:真空容量法(真空靜態法),吸附及脫附等溫線測定,bjh總孔體積及孔徑分析,樣品真密度測定,t-plot圖法微孔分析,mp法微孔分析,hk法微孔分析,bet法比表面積測定(單點及多點),langmuir法比表面積測定,平均粒徑估算,t－plot圖法外比表面積測定
更新時間:2025-09-19
國內率先推出與國際接軌的全自動型比表面及孔徑分析儀，多項f-sorb獨創技術已成為國內其他廠商效仿的典范；目前國內同類產品中，唯一實現完全自動化和智能化測試的同時，保持高穩定性和高測試精度的產品；
更新時間:2025-09-19
金埃譜科技是國內最早參與比表面積標準物質標定的機構,測試結果與國外數據可比性平行性最好,并獲取權威認證機構的檢測證書,同時金埃譜科技也是國內同行業中注冊資本規模最大,唯一通過iso9001質量認證的生產企業,雄厚實力和完善的質量及服務體系,讓您選購的產品無后顧之憂!
更新時間:2025-09-19
獨特設計的抽氣及進氣控制系統,有效防止樣品抽真空和進氣過程中的飛濺,確保測試氣路的清潔和樣品質量無損失,保護高精度壓力傳感器免受壓力巨變可能導致的零點和線性漂移;
更新時間:2025-09-19
v-sorb 4800p是金埃譜科技自主研發的全自動智能化比表面積和孔徑測定儀器,采用靜態容量法測量原理,眾多著名科研院所及500強企業應用案例,相比國內同類產品,金埃譜比表面及孔隙率檢測儀多項獨創技術的采用使產品整體性能更加完善,金埃譜比表面及孔隙率檢測儀測試結果的準確性和一致性進一步提高,金埃譜比表面及孔隙率檢測儀測試過程的穩定性更強,金埃譜比表面及孔隙
更新時間:2025-09-19
樣品數量：同時進行2個樣品分析和2個樣品脫氣處理,樣品測試系統和樣品處理系統相互獨立,并且樣品測試和樣品脫氣處理可以同時進行,避免了測試管路受到污染,從而進一步確保測試的精度和提高儀器使用壽命
更新時間:2025-09-19
測試方法及功能:氮吸附靜態容量法,吸附及脫附等溫線測定,bjh總孔體積及孔徑分析,樣品真密度測定,t-plot圖法微孔分析,mp法微孔分析,hk法微孔分析,bet法比表面積測定(單點及多點),langmuir法比表面積測定,平均粒徑估算,t－plot圖法外比表面積測定;
更新時間:2025-09-19
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