表面阻抗分析儀產品及廠家
硅片高溫方阻測試儀 廣泛用于：生產企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ito）和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數據 硅片高溫方阻測試儀
更新時間:2025-09-18
浙江高溫四探針電阻率測試系統廠家直銷 液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表； 浙江高溫四探針電阻率測試系統廠家直銷
更新時間:2025-09-18
直流低電阻測試儀性能特點:5位led顯示，穩定性好。最小的分辨率：1μω直讀值與百分比誤差顯示、上超、下超、合格分選及訊響功能提供rs-232c接口及handler接口（選配）
更新時間:2025-09-18
智能粉末電阻率測試儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關面板，操作簡單，耐用，符合人體工學操作規范
更新時間:2025-09-18
四探針電阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-09-18
寧波半導體電阻率測試儀 按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準。
更新時間:2025-09-18
負極材料粉末電阻率測試儀 滿足：yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法 第6部分 粉末電阻率的測定；本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
更新時間:2025-09-18
導電材料電阻率測試儀采用四端測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門，實驗室是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電阻率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-09-18
多功能材料電阻率測試儀適用于生產企業、高等院校、科研部門，實驗室是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電阻率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置
更新時間:2025-09-18
通用型粉末電阻率測試儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關面板，操作簡單，耐用，符合人體工學操作規范.
更新時間:2025-09-18
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試儀適用標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與國際標準iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.
更新時間:2025-09-18
導體材料高溫電阻率測試儀廣泛用于：生產企業、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數據的測量.同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
更新時間:2025-09-18
材料低電阻率測試儀滿足標準： gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新時間:2025-09-18
雙電測電四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-09-18
四探針方阻儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準，本機配置232電腦接口及usb兩種接口.
更新時間:2025-09-18
方塊電阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準.
更新時間:2025-09-18
薄膜方阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-09-18
數字式四探針測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-09-18
自動導體粉末電阻率測試儀采用一體化結構設計，將粉末比電阻的測量與粉體電阻率/電導率分析為一體，測量與數據分析通過pc軟件完成，粉體壓強與電阻值、電阻率、電導率值的變化關系
更新時間:2025-09-18
雙電測電四探針電阻率測試儀本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-09-18
薄膜電阻率測試儀該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-09-18
薄膜或涂層方塊電阻測試儀該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-09-18
導電薄膜方塊電阻測試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
更新時間:2025-09-18
端子電壓降測試儀滿足標準：qc/t 730-2005 ;iso 6722：2002 gb/t 2951—1997; gb/t 3048—1994 qc/t29106-2004; qc/t413-2002 ;qc/t413-2002;同時滿足德國、法國、韓國、日本、等國家標準要求和測試規范，電壓降實驗按qc/t29106-2004標準5.7進行實驗 qc/t29106-2004標準.
更新時間:2025-09-18
經濟型表面電阻和體積電阻測試儀 適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-09-18
ft-310炭素材料電阻率測試儀四端測試法測量碳素材料，石墨等塊狀棒狀及粉末材料常溫下高導電性能。該儀器采用高精度恒流恒壓源，自動顯示電流和電壓并根據測試產品特性自動轉換測試量程，無需手動調節和設定。4.3吋液晶屏幕顯示，自動顯示測試測試電流、電壓、溫度、電阻率等數據，選配：如配備軟件可，通過軟件操控儀器工作，并獲得測試數據之圖表和測試結果。根據產品形狀不同可以選配測試治具.
更新時間:2025-09-18
lx-9830g恒流恒壓電壓降檢測儀該儀器適用于測量不可重接插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降,從而判斷接線口優劣,也可檢查插頭線在完成標準規定的彎曲試驗次數后的斷線情況。該儀器同時適用于測量開關觸點、繼電器、開關、線材線束、壓接線端子、連接器等相關產品之電壓降測試本儀器有可調的大電流輸出,微電壓測試,數碼管顯示。滿足標準：sae/uscar38 2009
更新時間:2025-09-18
鋰電池粉末電阻率測試儀 采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。滿足：yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法 第6部分 粉末電阻率的測定.
更新時間:2025-09-18
四探針粉末電阻率測試,粉末電阻儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、方阻、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求
更新時間:2025-09-18
ft-300i 高精度粉末電阻率測試儀ft-300i 高精度粉末電阻率測試儀 粉末電阻率測試儀 一、功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求
更新時間:2025-09-18
ft-300ⅳ半導體粉末電阻率測試儀ft-300ⅳ半導體粉末電阻率測試儀滿足：yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法 第6部分 粉末電阻率的測定；
更新時間:2025-09-18
電線電阻率測試儀 測量金屬材料體積電阻率和質量電阻率時，可以測量全規格銅桿、銅線、銅線坯、鋁桿、鋁線、硬鋁錢、硅合金線的電阻率。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表.電纜電阻率測量儀 電線電阻率測試儀 電纜電阻率測量儀
更新時間:2025-09-18
材料電導性能測試儀,自動電阻率測試儀ft-320 材料超低電阻及電阻率測試儀一.本儀器采用四端測量方式，測試材料超低電阻、電阻率和高導電性能數據。該儀器采用高精度直流恒流恒壓源，高效率，穩定度和準確性高；有手動和自動設定模式；并根據測試產品特性自動轉換測試量程，無需手動調節和設定。4.3吋液晶屏幕顯示，自動顯示測試測試電流、電壓、溫度、電阻率、電導率、電
更新時間:2025-09-18
ft-300a1導體材料電阻率測試儀 配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關面板，操作簡單，耐用，符合人體工學操作規范.
更新時間:2025-09-18
ft-300a2通用型材料電阻率測試儀 本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
更新時間:2025-09-18
ft-301多功能粉末電阻率測試儀輸出采用高精度芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便. ft-301多功能粉末電阻率測試儀優勢：1.本機自帶軟件由電腦自動控制儀器工作
更新時間:2025-09-18
上海四探針方塊電阻測試儀 、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求 上海四探針方塊電阻測試儀
更新時間:2025-09-18
四探針方阻測試儀操作方法 按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針 ft-332四探針 四點探針 四探針測試儀
更新時間:2025-09-18
四探針電阻率測試儀,方阻儀 顯示讀數：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率 四探針電阻率測試儀,方阻儀
更新時間:2025-09-18
硅材料測試儀-四探針法測試臺 探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產品測量，更加準確.硅材料測試儀-四探針法測試臺
更新時間:2025-09-18
四探針法粉末電導率測試儀，已知量的粉體，在液壓動力下壓縮體積至設定壓力值或壓強，在線測量粉體電阻、電阻率、電導率，并記錄數據.解決粉體難壓片成型或壓片取出測量誤差.
更新時間:2025-09-18
參照標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 no.1部分表面電阻檢驗方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與國際標準iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》；
更新時間:2025-09-18
功能描述：采用液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償.高集成電路系統、恒流輸出；選配：pc軟件進行數據管理和處理參考國標單晶硅物理測試方法及 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-09-18
適用于測量粉末、粉體、顆粒物、氣體、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。
更新時間:2025-09-18
適用于半導體材料企業、科研、高等院校及實驗室分析半導體材料縱向電阻率；可測量橫截面積均勻的圓形、方形或矩形硅單晶的電阻率，試樣長度與截面尺寸之比應不小于3:1
更新時間:2025-09-18
ft-351a高溫固體四探針電阻率測試儀 ，采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫箱結合配置高溫四探針測試探針治具與pc軟件對數據的處理和測量控制，解決半導體材料的電導率對溫度變化測量要求，軟件實時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線圖譜，及過程數據值的報表分析。
更新時間:2025-09-18
ft-400ahxm-qj487化學轉化膜表面電阻測試儀功能介紹function introduction 采用四端測量法,配置測量平臺。液晶顯示，溫度補償功能，電阻率單位自動選擇。數顯壓強，上下限及報警功能pc軟件實時數據和報表管理;中英文版本。
更新時間:2025-09-18
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