探針臺產品及廠家
可以進行真空環境中的高低溫測試（10k~325k）。磁場強度在x軸上為0.75t，在y軸上為0.75 t，在z軸上為0.4t。
更新時間:2025-09-19
1、真空腔體約直徑260mm，2、帶有4英寸高透射觀察窗，材質熔融石英3、樣品載臺直徑：50mm 樣品載臺平整度<5微米
更新時間:2025-09-19
高低溫真空磁場探針臺半導體測試實驗臺應用范圍：磁特性測試、微波特性測試、直流、rf特性測試，微電子機械系統，超導電性測試，納米電路的光電屬性，量子點和線，高低溫真空環境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。
更新時間:2025-09-19
磁場探針臺產生多維磁場半導體測試設備三維探針臺和錦正茂自主研發的高精度雙性電源相匹配，通過真正的雙性電源輸出，實現了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時間:2025-09-19
變溫教學霍爾測試系統 磁場大于3900高斯 本儀器用于霍爾效應及其應用、載流子類型、載流子類型轉變的演示和學生實驗。
更新時間:2025-09-19
實驗室半導體材料測量儀器定制＊精度實驗臺該探針臺和我司自主研發的＊精度雙性恒流電源搭配使用，可以提高磁場的＊穩定性。
更新時間:2025-09-19
半導體材料測量＊精度實驗臺高低溫真空環境探針臺 錦正茂高低溫真空探針臺可進行真空環境下的高低溫測試（4.2k~500k）。
更新時間:2025-09-19
半導體材料測量高精度實驗臺高低溫真空磁場環境探針臺 廣泛應用于半導體工業、mems 、超導、電子學、鐵電子學、物理學、材料學和生物醫學等域。
更新時間:2025-09-19
高低溫真空磁場探針臺是具備提供高低溫、真空以及磁場環境的高精度實驗臺，它的諸多設計都是用的。因此，高低溫磁場探針臺的配置主要是根據用戶的需求進行選配及設計。例如，要求的磁場值，均勻區大小、均勻度大小、樣品臺的尺寸等，均于磁力線在一定區域內產生的磁通密度相關聯；
更新時間:2025-09-19
可進行真空環境下的高低溫測試（4.2k~500k），可升加載磁場，低溫防輻射屏設計，樣品臺采用高純度無氧銅制作，溫度均勻性更好，溫度傳感器采用有著良好穩定性和重復性的pt100或者標定過的硅二管作為測溫裝置，支持光纖光譜特性測試，兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動，器件的高頻特性(支持高67ghz頻率)，探針熱沉設計，ld/led/pd的光強/波長測試，自動流量控制，材料/器件的iv/cv特性
更新時間:2025-09-19
北京錦正茂科技有限公司提供的一維 、二維 、三維磁場探針臺，采用無磁材料制成，一維 、二維 、三維三對亥姆霍茲線圈正交放置，產生空間一維 、二維 、三維磁場。線圈可采用風冷（磁場較小）也可采用水冷結構（磁場較大），并且配備有線圈過熱保護裝置。和錦正茂生產的高精度雙性直流電源配合使用可以長時間穩定工作。通過軟件或者電源控制面板上按鍵控制每一維上的輸出電流，可以產生空間任意方向的矢量磁場。
更新時間:2025-09-19
材料實驗室半導體測量高低溫真空磁場環境探針臺錦正茂高低溫真空探針臺高低溫真空環境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。
更新時間:2025-09-19
jzm-d30室溫探針臺材料實驗室半導體測量設備儀器錦正茂jzm-d30室溫探針臺的諸多設計都是﹡用的，探針臺的配置主要是根據用戶的需求進行選配及設計。
更新時間:2025-09-19
氣氛型高溫探針臺半導體材料測量快速實現室溫-200℃環境的控溫，可在真空環境下對樣品進行光學，電學測試，測試中也可實現惰性氣體的快速充放。
更新時間:2025-09-19
高低溫真空腔探針系統主要用于為被測芯片提供一個低溫或者高溫的變溫測量環境，以便測量分析溫度變化時芯片性能參數的變化。腔體內被測芯片在真空環境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來的測試結果誤差，支持定制15611171559。
更新時間:2025-09-19
華測半導體封裝材料真空探針臺/可r-t、c-v、i-v、r-i，cp-d,ε測試，精密小巧按需定制集成化設計性能穩定，測試類型：r-t，c-v，i-v，r-i，cp-d,ε測試，搭配儀器：源表、高阻計、直流低電阻測試儀、阻抗分析儀、半導體參數分析儀。
更新時間:2025-09-16
華測真空探針臺/半導體封裝材料i-v測試系統，搭配儀器：源表、高阻計、直流低電阻測試儀、阻抗分析儀、半導體參數分析儀
更新時間:2025-09-16
雙面點針探針臺可用于晶圓和pcb板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。該定制探針臺具有優良的機械系統，穩定的結構，符合人體工程學，以及多項升功能。可廣泛應用于集成電路、wafer ， led、lcd、太陽能電池等行業的制造和研究域。
更新時間:2025-09-16
高精度piv測試簡易探針臺由華測儀器生產，主要用于電學性能測試，該探針臺具有靈活性、低成本和高精度的特點，結構緊湊、性價比高、穩定性強、具備模塊化和可擴展性，其主要應用于半導體器件研發、光電子與顯示技術以及工業與工程應用，對于測試實驗中效率的提升、質量控制與可靠性的驗證、提供實驗依據、優化成本與節約資源具有重大意義。
更新時間:2025-09-16
晶圓測試高低溫真空探針臺是一種輔助執行機構，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺(chuck)上，在顯微鏡配合下，x-y移動器件，找到需要探測的位置，接下來通過旋轉探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制前部探針(射頻或直流探針)，準確扎到被測點，從而使其訊,號線與外部測試機導通，通過測試機可以得到所需要的電性能參數。
更新時間:2025-09-16
多級抽氣式高真空度真空探針臺是一種輔助執行機構，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺(chuck)上，在顯微鏡配合下，x-y移動器件，找到需要探測的位置，接下來通過旋轉探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制前部探針(射頻或直流探針)，準確扎到被測點，從而使其訊,號線與外部測試機導通，通過測試機可以得到所需要的電性能參數。
更新時間:2025-09-16
復合控溫寬溫域高低溫真空探針臺是一種輔助執行機構，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺(chuck)上，在顯微鏡配合下，x-y移動器件，找到需要探測的位置，接下來通過旋轉探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制前部探針(射頻或直流探針)，準確扎到被測點，從而使其訊,號線與外部測試機導通，通過測試機可以得到所需要的電性能參數。
更新時間:2025-09-16
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