掃描電子顯微鏡（SEM）產品及廠家
nspecttm系列滿足傳統高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 inspecttm 專為滿足研究各類材料以及表征材料結構和成分的主流需求而設計，配備高穩定分辨率平臺，可滿足大多數研究的需要。簡單易用的界面可實現準確、快速的數據收集：將表面形貌和成分圖像與快速元素分析結合，確定材料特性及其化學元素組成。在眾多領域，高分辨率和高電流 feg 掃描電鏡的價值在于有助應對生成高品質圖像和實施快速分析的挑戰。
更新時間:2025-09-19
該產品是世界上di一款可以對有機材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進行超高分辨表征的低真空場發射掃描電子顯微鏡（feg-sem）。作為fei公司引領市場的眾多設備中zui新的一員，nova nanosem為用戶在納米研究、開發與生產的相關工作提供了更多的可能。 nova nanosem的出現為那些非導電的以及有污染的納米材料研究和開發者們帶來了新的表征手段。與nanosem同時
更新時間:2025-09-19
全新的 magellan? 400 sem 是首款可在1-30 kv 電子能量范圍內提供亞納米級分辨率的掃描電鏡，有效建立被稱為 xhr 掃描電鏡的全新性能類別。非凡的低加速電壓性能可提供其他技術根本無法實現的超高分辨率表面特定信息。在半導體和數據存儲市場，magellan 前所未有的性能可大幅擴展 sem 的功能，提供基礎研究、流程和材料開發、流程控制以及故障分析所需的全面解決方案。它可實現快速高襯度成像，并具備大樣品或多樣品的亞納米級分辨率成像和全面分析
更新時間:2025-09-19
?titan etem g2 是我們專用的環境 tem 平臺，設計用來觀測功能性納米材料及其隨著時間的推移對氣體和溫度刺激的響應。憑借du一無二的差動泵目鏡，標本區可變身為實驗室，展開對催化劑微粒、納米器件和其他材料的研究，進而在原子級別洞察表面和界面形態及相互作用。在需要時，titan etem 還可作為標準 s/tem 開展原子級別成像。- 化學成分和價鍵狀態研究
更新時間:2025-09-19
apreo 復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生前所未有的高分辨率和信號選擇。這使得 apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。apreo 受益于獨特的透鏡內背散射探測，這種探測提供卓越的材料對比度，即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時也不例外。新型復合透鏡通過能量過濾進一步提高了對比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾。可選低真空模式，現在的zui大樣品倉壓力為 500 pa，可以對要求zui嚴苛的絕緣體進行成像。通過這些優勢（包括復合末級透鏡、高級探測和靈活樣品處理），apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應對未來的研究難題。
更新時間:2025-09-19
fei talos f200x 融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (stem) 和 tem 成像功能與行業ling先的能量色散 x 射線光譜儀 (eds) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學表征功能。talos f200x 可在所有維度 (1d-4d) 下實現zui快速、zui精確的 eds 分析，以及zui好且支持快速導航的動態顯微鏡 hrtem 成像。fei talos f200x 融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (stem) 和 tem 成像功能與行業ling先的能量色散 x 射線光譜儀 (eds)。talos f200s 在 stem 成像上具有極大的多功能性和極高的通量。它可以為動態顯微鏡實現zui精確的 eds 分析和zui好的 hrtem。與此同時，fei talos f200s 還提供zui高的穩定性和最長的正常運行時間。
更新時間:2025-09-19
fei sem apreo 掃描電子顯微鏡革命性的復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生*的高分辨率和信號選擇。這使得 apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低
更新時間:2025-09-19
fei magellantm系列掃描電子顯微鏡界： 高靈敏的表面圖像、以及俯視或從其它角度觀看圖像，分辨率可達到一納米以下。 這款電鏡上的一些重要突破在于它鏡筒上采用了革命性的單色槍技術,它使顯微學家
更新時間:2025-09-19
fei quanta系列 掃描電子顯微鏡包括6個變量的壓力和環境掃描電子顯微鏡（esem™）和兩個dualbeam™系統，所有這些都可以容納多個樣品和工業過程控制實驗室，材料科
更新時間:2025-09-19
要特點：1.fei esem(環境掃描電鏡)技術, 可在高真空、低真空和環境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。3.先進的系統結構平臺，全數字化系統。
更新時間:2025-09-19
verios xhr semverios 是 fei ling先的 xhr（極高分辨率）sem 系列的第二代產品。在jian端半導體制造和材料科學應用中，它可在 1 至 30 kv 范圍內提供亞納米量級分辨率以及增強的對比度，滿足材料精密測量所需，同時又不會削弱傳統掃描電子顯微鏡 (sem) 所具有的高吞吐量、分析能力、樣本靈活性和易用性等優勢。verios 的生命科學應用觀測敏感的生物樣本時，
更新時間:2025-09-19
飛納高分辨率專業版 phenom pro 是飛納電鏡系列中最先進的產品，第四代 phenom pro 放大倍數提升為 130,000 倍，分辨率優于 14 nm，30 秒快速得到表面細節豐富的高質量圖像，是目前世界上分辨率最高的臺式掃描電鏡，可用于測量亞微米或納米尺度的樣品；飛納高分辨率專業版 phenom pro 繼承了飛納電鏡系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、全自動操作、2-3 年更換燈絲及防震設計等優點。
更新時間:2025-09-19
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