場發射掃描電鏡產品及廠家
em科特（emcrafts）cube-ⅱ plus電鏡能譜一體機，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。擁有集成能譜（eds）設備的同時確保高分辨成像功能的應用，簡便化的操作使得cube-ⅱ plus可在任何微小區域，同時實現納米分析與元素分析。多種顯示模式為sem-eds材料表征需求的提供人性化的幫助。測量軟件豐富多樣，可滿足您日常檢驗研究的所有需求。
更新時間:2025-09-18
em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區別于落地式掃描電鏡的笨重機身，cube-ⅱ smart占地面積小機身緊湊，僅需放在平穩的桌面上即可操作測量，無需特殊的安裝環境。用戶還可遵照客戶服務指南來任意移動自己的臺式sem設備。
更新時間:2025-09-18
em科特（emcrafts）cube金屬夾雜物系列掃描電鏡，可根據不同的檢測需求，靈活定制自動分析流程，保證高通量快速運行。同時可將您所需要的樣品信息，如顆粒尺寸、形狀、長寬比等同時顯示在界面。即使是初學者也可以方便快速地獲得整個樣品中幾千甚至幾萬顆粒的信息。
更新時間:2025-09-18
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內），大大提升檢測效率。
更新時間:2025-09-18
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內）。
更新時間:2025-09-18
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內）。
更新時間:2025-09-18
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內），大大提升檢測效率。
更新時間:2025-09-18
veritas系列掃描電鏡擁有大樣品倉室，內含5軸多功能電動樣品臺，可輕松測量大尺寸的樣品。并且veritas系列的樣品倉可同時安裝了多個樣本，減少樣品來回放置時因抽真空所使用的時間，從而達到快速分析測樣的目的，有.效地提高檢測速度。
更新時間:2025-09-18
em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區別于落地式掃描電鏡的笨重機身，cube-ⅱ smart占地面積小機身緊湊，僅需放在平穩的桌面上即可操作測量，無需特殊的安裝環境。用戶還可遵照客戶服務指南來任意移動自己的臺式sem設備。
更新時間:2025-09-18
em科特（emcrafts）cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區別于傳統掃描電鏡的笨重機身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環境，用戶可遵照客戶服務指南任意移動sem設備，節約空間成本。
更新時間:2025-09-18
em科特（emcrafts）cube金屬夾雜物系列掃描電鏡，可根據不同的檢測需求，靈活定制自動分析流程，保證高通量快速運行。同時可將您所需要的樣品信息，如顆粒尺寸、形狀、長寬比等同時顯示在界面。即使是初學者也可以方便快速地獲得整個樣品中幾千甚至幾萬顆粒的信息。
更新時間:2025-09-18
cube臺式掃描電鏡，適用于科研院所和高校的研究小組或企業研發中心，可對各種材料和器件表面微結構或組織形態進行精細觀測，接配簡易eds可快速鑒定微區化學成分。電子光學系統：業配置；l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三電磁透鏡，圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺：大行程馬達驅動樣品臺，大
更新時間:2025-09-18
jem-3200fs場發射電子顯微鏡配備了高加速電壓為300kv的場發射電子槍（feg）和鏡筒內置式ω型能量過濾器，能為廣泛的研究域提供各種全新的解決方案。
更新時間:2025-09-17
jem-f200 場發射透射電子顯微鏡，以節能環保、減排低碳為理念開發的jem-f200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
更新時間:2025-09-17
德國zeiss場發射電子顯微鏡sigma 300 ，專利gemini鏡筒，超高的束流穩定性， 卓越的低電壓性能，in lens 探測器，磁性材料高分辨觀察。
更新時間:2025-09-17
thermo scientific helios 5 d ualbeam 產品系列憑借其最先進的聚焦離子束和電子束性能、專有軟件、自動化和易用性特征，重新定義了樣品制備和三維表征的標準。
更新時間:2025-09-17
"regulus系列"是日立高新技術的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續機型開發的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級 "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個機型，均實現了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2025-09-16
【hitachi】日立新型臺式掃描電鏡tm4000plus可在樣品倉內加裝光學相機來拍攝照片，以往通過經驗尋找目標位置*1，現在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達臺*2，原來需手動調整的操作，現在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時間:2025-09-16
【hitachi】日立120kv透射電鏡ht7800 很好地繼承了日立120kv-tem的基本理念，兼顧低倍率與寬視野觀察、高襯度與高分辨率觀察，可在同一儀器上一鍵切換等。集高襯度和高分辨兩種模式于一體，可同時滿足軟材料/納米材料類和生命科學類客戶對電鏡的需求。
更新時間:2025-09-16
【hitachi】su9000新型超高分辨冷場發射掃描電鏡采取了全新改進的真空系統和電子光學系統，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發射掃描電鏡甚至不需要傳統意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。
更新時間:2025-09-16
【hitachi】冷場發射掃描電鏡regulus8100易維護、易操作等優點，進一步提高性能，1kv減速模式下最高分辨率達到了0.8nm，15kv達到0.7nm，高低電壓均可滿足高分辨的觀察。
更新時間:2025-09-16
【hitachi】日立高性能鎢燈絲掃描電鏡su3500通過高畫質提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立最先進科技“獨具匠心”。
更新時間:2025-09-16
【hitachi】日立新型熱場發射掃描電鏡su5000高穩定性熱場發射電子槍， 全新的em wizard軟件，無需設置參數即可獲得高質量圖片，高分辨率和強大的分析能力，樣品適用性強：不導電樣品直接觀察（低真空功能，10-300pa）
更新時間:2025-09-16
日立新型鎢燈絲掃描電鏡flexsem1000 ii 體積小、操作簡單、性能強（4nm@20kv）、擴展功能豐富2. 擁有多個探測器（se、bse）3. 擁有低真空功能，不導電和含水樣品直接觀察
更新時間:2025-09-16
日立l型fib-sem-ar三束系統nx9000能夠獲得一系列的截面圖像，從而實現特定顯微切片的三維結構分析。nx9000中的sem鏡筒和fib鏡筒呈正交結構，而不是常見的對角構造。
更新時間:2025-09-16
日立高分辨型雙束系統nx5000可以避免樣品損傷，為超薄樣品和復雜的制備提供了新的解決方案，可以滿足納米材料、半導體材料、生物材料等多種樣品的快速、無損、精細加工。
更新時間:2025-09-16
日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡su3900采用超大的樣品倉和多接口設計，適合超大樣品的觀察（直徑300mm）以及多種分析功能的拓展。同
更新時間:2025-09-16
日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡su3800采用全新的hexbias偏壓技術，使其低電壓性能大大提升，同時升級的高靈敏度背散射探測器和可變壓力探測器使得su3800的觀察能力進一步提升。
更新時間:2025-09-16
日立透射電鏡ht7820 繼承了標準版ht7800高速cmos熒光屏相機設計、全數字化、大集成等優點和創新點，仍然采用第二代雙隙物鏡的設計，設計使用高分辨物鏡，標配lab6燈絲，性能實現突破性提升。
更新時間:2025-09-16
--搭載全新用戶界面，向所有用戶提供高畫質圖像-- 日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發售的肖特基式場發射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶界面和"em wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片
更新時間:2025-09-16
、微電腦液晶顯示屏，可在線實時監測ro水和up水水質2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡單，使用壽命長3、監控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂，保證產水水質進水要求
更新時間:2025-09-16
日立發布的200kv球差校正透射電鏡hf5000，具有高穩定冷場發射電子槍，自動球差校正器，可一鍵操作實現自動球差校正，haadf-stem分辨率可以達到0.78埃；可配置eds雙探頭，固體角最大可達2.0sr；具備tem、stem，sem和電子衍射等多種圖像觀測模式；鏡筒和樣品臺經過了重新設計，顯著提升了儀器的性能和穩定性......hf5000將是材料學、生命科學、半導體制造、石油煤炭等研究領域的可靠助手。
更新時間:2025-09-16
日立新一代全數字化120kv透射電子顯微鏡ht7800，屬于日立瑠璃系列產品ruli tem，操作的一體化和自動化程度都有明顯提高。ht7800系列產品有兩個型號ht7800和ht7830。
更新時間:2025-09-16
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標配了報告生成功能，觀察結束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報告。此外，選配項還可實現更多功能。可在樣品倉內加裝光學相機來拍攝照片，以往通過經驗尋找目標位置*1，現在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達臺*2，原來需手動調整的操作，現在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時間:2025-09-16
此次推出的su7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據不同的觀察信號來調整樣品與透鏡之間的距離（工作距離／以下簡稱wd），以獲得最佳的觀察與分析條件，而su7000通過新研發的樣品倉以及檢測器系統，可在同樣的wd的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。 而且，su7000還配置了可同時6通道顯示界面（前代機型只能同時顯示4通道），進一步升級電鏡控制系統，大幅提高了信號獲取速度，由此實現了樣品的高效率觀察。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析
更新時間:2025-09-16
可搭載的最 大樣品尺寸：“su3800” 標配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉，可應對最 大高度為80mm、重量為2kg的樣品。 “su3900”作為日立高新技術的大型掃描電鏡，標配可搭載最 大直徑300mm樣品的樣品倉，可應對最 大高度為130mm、重量為5kg(比前代機型提高2.5倍*2)的樣品
更新時間:2025-09-16
在以納米技術和生物技術為主的產業領域里，從物質的微細結構到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。sem用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺能對應的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時需要進行切割等加工。因此，對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。
更新時間:2025-09-16
"regulus系列"是日立高新技術的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續機型開發的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級 "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個機型，均實現了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2025-09-16
日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發售的肖特基式場發射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶界面和"em wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時間:2025-09-16
日立高新場發射掃描電子顯微鏡su8200系列（hitachi uhr fe-sem su8200 series，su8220，su8230，su8240）采用日立高新技術公司全新開發的冷場電子槍，實現超高分辨率下觀察的同時，穩定的束流亦可滿足長時間下的分析需求。在日立高新的新型冷場發射掃描電鏡(fe-sem)su8200系列中，有su8220、su8230、su8240三款機型，于5月20日開始
更新時間:2025-09-16
日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需最大300萬倍穩定觀察的先進半導體器件，高分辨成像所設計。新的電子槍和電子光學設計提高了低加速電壓性能。
更新時間:2025-09-16
日立高新分析超高分辨率肖特基熱場發射掃描電子顯微鏡su-70 是一種新概念掃描電子顯微鏡。日立高新分析超高分辨率肖特基熱場發射掃描電子顯微鏡su-70采用了日立經過實地驗證的 “semi-in-lens”超高分辨率技術以及肖特基熱場發射電子槍技術。
更新時間:2025-09-16
日立高新超高分辨場發射掃描電子顯微鏡su8000系列（hitachi uhr fe-sem su8000 series，su8010，su8020，su8030，su8040）具有共同的卓越功能，諸如超高分辨率技術（1.3nm/1.0kv），信號探測系統范圍廣，可操作性強，便于用戶操作等。
更新時間:2025-09-16
秉承飛納臺式掃描電鏡系列全自動操作、快速成像、不噴金觀看不導電樣品、完全防震、性能穩定的特點，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發射電子源臺式掃描電鏡 phenom pharos g2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發射電子源，使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像，分辨率優于 1.5nm
更新時間:2025-09-16
tima3 lmu/lmh feg是一款基于場發射掃描電子顯微鏡設計的集成式礦物分析專家，適用于采礦和礦物處理行業的應用。tescan的獨特技術是基于一個完全集成的edx系統，能以非常快的速度執行全譜掃描，可用于礦石特性檢測、工藝優化、修復技術和貴金屬與稀土的尋找。sem和edx硬件的集成水平實現了以前所未有的采集速度完全自動化的數據采集，并得到快速、準確和可靠的結果
更新時間:2025-09-15
最新產品
- @商務主推BL20-4DI-24VDC-P 6827012 2025/9/19 19:15:55
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- @采購推選FU-38V 2025/9/19 19:06:42
- @市場推送K07A-01 JEV03134-1E 2025/9/19 19:06:10
- @市場推送1790D-T16BV0 2025/9/19 19:05:39
- @商務推出HFBR-PMD001 2025/9/19 19:05:08
- @市場推送331LA20452 PB.REV.HME10 A1 2025/9/19 19:02:42
- 推出BTL02PW 2025/9/19 19:02:01
- 推出15SV04N0556T 255-277/440-480 2025/9/19 19:01:28
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- 推送252-PVZ4-004631 2025/9/19 18:58:15
- @市場推送1SDA023356R1 2025/9/19 18:57:25
- 推送LV-H100 2025/9/19 18:56:53
- 主推KQ5E KQ5E-01 JEV06275-001 2025/9/19 18:56:04
- @商務主推1734-FPD 2025/9/19 18:53:33
- @市場推送PFXGP4201TAD 2025/9/19 18:52:44
- @商務推出C79458-L9006-B1 2025/9/19 18:52:11
- @采購推選MR-J4-200A 2025/9/19 18:51:35
- 推選FR-A720-1.5K 2025/9/19 18:48:52
- 推送14410LAB55 WA430052 2025/9/19 18:48:10
- 推出VW3A66504 2025/9/19 18:47:24
- 現貨GT2-H12 2025/9/19 18:46:43
- 推送A06B-6220-H011#H600 2025/9/19 18:43:44
- @市場推送6ES5470-4UB13 2025/9/19 18:43:06