橢偏儀產(chǎn)品及廠家
德國 sentech 低成本高效益的光譜橢偏儀senpro,senpro橢偏儀是橢偏儀應用的智能解決方案。它具有角度計，入射角度步進值5°。操作簡單，快速測量和直觀的數(shù)據(jù)分析相結(jié)合，以低成本效益高的設計來測量單層和多層膜的厚度和光學常數(shù)。
更新時間:2025-09-17
sendira紅外光譜橢偏儀,振動光譜的特點是傅立葉紅外光譜儀ftir。測量紅外分子振動模的吸收譜帶，分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導電膜的電荷載流子濃度。
更新時間:2025-09-17
senduro 全自動光譜橢偏儀,包括基于測量處方的僅在幾秒鐘內(nèi)即可完成的快速數(shù)據(jù)分析。橢圓儀的設計是為了便于操作：放置樣品，自動樣品對準，自動測量和分析結(jié)果。在全自動模式下使用光譜橢偏儀非常適合于質(zhì)量控制和研發(fā)中的常規(guī)應用。
更新時間:2025-09-17
spectraray/4:光譜橢偏測量/分析軟件，senduro®全自動光譜橢偏儀包括基于測量處方的僅在幾秒鐘內(nèi)即可完成的快速數(shù)據(jù)分析。橢圓儀的設計是為了便于操作：放置樣品，自動樣品對準，自動測量和分析結(jié)果。在全自動模式下使用光譜橢偏儀非常適合于質(zhì)量控制和研發(fā)中的常規(guī)應用。
更新時間:2025-09-17
激光橢偏儀 se 400adv，激光橢偏儀se 400adv測量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀se 400adv表征吸收膜特征。
更新時間:2025-09-17
se 500adv 激光橢偏儀激光橢偏儀se 500adv，橢偏儀se 500adv將激光橢偏儀和反射儀結(jié)合在一個系統(tǒng)中。這種組合允許零度反射法用于快速薄膜分析，并且允許透明膜以激光橢偏儀的亞埃精度將可測量的厚度范圍擴展到25埃米，從而明確地確定厚度。
更新時間:2025-09-17
激光橢偏儀se 400adv pv se 400adv pv是全球化使用的標準儀器，用于測量pv單層防反射涂層的厚度和折射率指數(shù)。特別用于表征單晶和多晶硅太陽能電池上的sinx 防反射單層膜的性能。該儀器用于sinx涂層和薄鈍化層sio2和al2o3的質(zhì)量控制。
更新時間:2025-09-17
se 800 pv 激光橢偏儀 sentech設計了se 800 pv，用于表征由sinx/sio2、sinx/siny或sinx/al2o3組成的多層鈍化膜和防反射涂層。分析了單晶和多晶硅太陽電池的折射率指數(shù)、吸收和膜厚。在配方模式下進行復雜的測量，速度快，操作容易。
更新時間:2025-09-17
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更新時間:2025-09-15
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更新時間:2025-09-15
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更新時間:2025-09-15
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更新時間:2025-09-15
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更新時間:2025-09-15
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更新時間:2025-09-15
semilab擁有全球zui優(yōu)秀的電學和光學表征技術(shù)，產(chǎn)品被廣泛應用于光伏、半導體、科研以及平板測試領域。憑借先進的測試設備，為客戶的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控提供一套完整的測試方案，在行業(yè)中始終處于領xian地位。
更新時間:2025-09-09
se2000全光譜橢偏測試平臺基于橢圓偏振測試技術(shù)，采用先進的旋轉(zhuǎn)補償器，結(jié)合光纖li技術(shù)將偏振光信號傳輸至分段光譜優(yōu)化的高分辨率單色儀或陣列式多通道攝譜儀，測得線偏振光經(jīng)過樣品反射后的偏振態(tài)變化情況，并通過樣品光學模型的建立，計算出單層或多層薄膜結(jié)構(gòu)的厚度、折射率和消光系數(shù)，實現(xiàn)精確、快速、穩(wěn)定的寬光譜橢偏測試。
更新時間:2025-09-09
sentech ser 800 pv光譜橢偏儀符合perc、topcon、hjt和鈣鈦礦技術(shù)等新型太陽能電池技術(shù)的研發(fā)要求。它操作簡單，具有高測量靈敏度、去偏振校正和特殊的聚光光學元件，使其成為在粗糙樣品表面上進行光伏應用的理想工具
更新時間:2025-09-09
unecs系列是可以高速、高精度測量薄膜膜厚和折射率的分光橢偏儀。采用的測量方式，實現(xiàn)了高速測量和機體的小型化。我們的產(chǎn)品陣容包括便攜式，自動式和對應真空環(huán)境的設備內(nèi)置式類型。
更新時間:2025-09-09
產(chǎn)品簡介：se-pv光伏橢偏儀是一款光伏行業(yè)領域?qū)Ｓ眯凸庾V橢偏儀，針對光伏行業(yè)絨面單晶硅或多晶硅太陽能電池表面減反膜測量定制開發(fā)，快速實現(xiàn)薄膜物性表征分析。光伏橢偏儀廣泛應用于光伏絨面單晶硅或多晶硅表面減反膜橢偏測量應用,實現(xiàn)單層到多層薄膜的薄膜、光學常數(shù)和幾何特征尺寸快速的表征分析。
更新時間:2025-08-30
產(chǎn)品簡介：光譜橢偏儀se-glass 是一款針對玻璃蓋板行業(yè)定制的專用型光譜橢偏儀，針對玻璃蓋板光學鍍膜行業(yè)通過集成微光斑+可視化調(diào)平系統(tǒng)儀消除透明基底背反測量定制開發(fā)，快速實現(xiàn)玻璃蓋板上多層薄膜物性表征分析。光譜橢偏儀se-glass 廣泛應用于玻璃基底山減反膜、調(diào)光膜、導電膜等薄膜的膜厚，光學常數(shù)測量，完美適用于玻璃蓋板、光學薄膜等鍍膜檢測應用。
更新時間:2025-08-30
產(chǎn)品簡介：全自動橢偏檢測機臺作為一種小型橢偏集成機臺，通過整體高度模塊化，電、氣路集成技術(shù)，實現(xiàn)不同橢偏測量模塊在線/離線式整體橢偏測量解決方案。全自動橢偏檢測機臺廣泛應用于科學研究中各種各向同性，異性薄膜材料的膜厚、光學常數(shù)以及一維、二維納米光柵的結(jié)構(gòu)表征；工業(yè)領域新型光電器件行業(yè)所涉及的薄膜（配向膜、光刻膠、ito、發(fā)光薄膜、封裝薄膜）全片離線化快速掃描測量。
更新時間:2025-08-30
產(chǎn)品簡介：se-mapping光譜橢偏儀是一款可定制化mapping繪制化測量光譜橢偏儀，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù)，配置全自動mapping測量模塊，通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實現(xiàn)薄膜全基片膜厚以及光學參數(shù)自定義繪制化測量表征分析。se-mapping光譜橢偏儀廣泛應用oled，led，光伏，集成電路等工業(yè)應用中,實現(xiàn)大尺寸全基片膜厚、光學常數(shù)以及膜厚分布快速測量與表征。
更新時間:2025-08-30
產(chǎn)品簡介：se-l光譜橢偏儀是一款全自動高精度光譜橢偏儀，集眾多科技專利技術(shù)，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù)，配置全自動測量模塊。通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實現(xiàn)光學參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析。se-l光譜橢偏儀廣泛應用于半導體薄膜結(jié)構(gòu)：介電薄膜、金屬薄膜、高分子、光刻膠、硅、pzt膜，激光二極管gan和algan、透明的電子器件、平板顯示、光伏太陽能、功能性涂料、生物和化學工程、塊狀材料分析等領域。
更新時間:2025-08-30
產(chǎn)品簡介：me-l是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了科研團隊在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補償器、雙旋轉(zhuǎn)補償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等。可應用于半導體薄膜結(jié)構(gòu)，半導體周期性納米結(jié)構(gòu)，新材料，新物理現(xiàn)象研究，平板顯示，光伏太陽能，功能性涂料，生物和化學工程，塊狀材料分析以及各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結(jié)構(gòu)的表征分析。雙旋轉(zhuǎn)補償器(drc)配置一次測量全部穆勒矩陣16個元素；配置自動變角器、五維樣件控制平臺等優(yōu)質(zhì)硬件模塊，軟件交互式界面配合輔助向?qū)皆O計，易上手、操作便捷；豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫，保證強大數(shù)據(jù)分析能力。
更新時間:2025-08-30
產(chǎn)品簡介：se-vm 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實現(xiàn)光學參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度，微光斑，可視化調(diào)平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設計。
更新時間:2025-08-30
產(chǎn)品簡介：se-ve 是一款超高性價比、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息。高性價比光學橢偏測量解決方案，緊湊集成化設計，極致用戶操作體驗，一鍵快速測量分析，人機交互設計，使用便捷，豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫，保證強大數(shù)據(jù)分析能力，廣
更新時間:2025-08-30
fft-在應用分析上，可除了橢圓儀原本的回歸分析，還增加了傅利葉的分析方式，可針對不同的材料與厚度使用，user使用上更為便利與快速.
更新時間:2025-08-20
上海祥樹歐茂機電設備有限公司成立于1999年，經(jīng)過多年的努力與良好的信譽度，公司與國際機電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個穩(wěn)定而高效的全球化國際供應鏈體系，竭盡全力為客戶提供服務。
更新時間:2025-08-13
上海祥樹歐茂機電設備有限公司成立于1999年，經(jīng)過多年的努力與良好的信譽度，公司與國際機電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個穩(wěn)定而高效的全球化國際供應鏈體系，竭真探頭盡全力為客戶提供服務。
更新時間:2025-08-13
上海祥樹歐茂機電設備有限公司成立于1999年，經(jīng)過多年的努力與良好的信譽度，公司與國際機電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個穩(wěn)定而高效的全球化國際供應鏈體系，竭真探頭盡全力為客戶提供服務。
更新時間:2025-08-13
多功能性設計，配置靈活，具備多角度測量能力，可方便實現(xiàn)在線與離線配置切換。是一款針對單層和多層薄膜進行簡單，快速，精確表征和分析的工具。
更新時間:2025-08-13
一鍵式全自動快速橢偏儀 auto se——新型的全自動薄膜測量分析工具。采用工業(yè)化設計，操作簡單，可在幾鐘內(nèi)完成全自動測量和分析，并輸出分析報告。是用于快速薄膜測量和器件質(zhì)量控制理想的解決方案。
更新時間:2025-08-13
偏鎢酸銨水合物英文名稱：ammonium metatungstate hydratecas：12333-11-8單位：瓶貨期：2-3天偏鎢酸銨水合物100g 560
更新時間:2025-07-13
鍍膜或刻蝕的過程中，實時監(jiān)測樣品膜的膜厚以及光學常數(shù)（n,k）變化。產(chǎn)品特點：將激發(fā)和探測頭引入生產(chǎn)設備，可實現(xiàn)：· 動態(tài)模式:實時監(jiān)測膜厚變化· 光譜模式：監(jiān)測薄膜的界面和組分技術(shù)參數(shù)：
更新時間:2025-06-25
智能型多功能橢偏儀smart se采用多功能性設計，配置靈活，具備多角度測量能力，可方便實現(xiàn)在線與離線配置切換。是一款針對單層和多層薄膜進行簡單，快速，精確表征和分析的工具。
更新時間:2025-06-25
20多年技術(shù)積累和發(fā)展的結(jié)晶,uvisel是一款高準確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機型。即使在透明的基底上也能對超薄膜進行最精確的測量。采用pem相位調(diào)制技術(shù)，與機械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比,能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比
更新時間:2025-06-25
新型的全自動薄膜測量分析工具，工業(yè)化設計，操作簡單，可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動測量和分析，并輸出分析報告。是用于快速薄膜測量和器件質(zhì)量控制理想的解決方案。
更新時間:2025-06-25
器簡介： 20多年技術(shù)積累和發(fā)展的結(jié)晶,是一款高準確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機型。即使在透明的基底上也能對超薄膜進行最精確的測量。采用pem相位調(diào)制技術(shù)，與機械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比,能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。
更新時間:2025-06-25
美國ast公司設計和制造適用各種不同應用的高品質(zhì)的光譜橢偏系統(tǒng)。橢偏振光譜儀（se）具有功能強大的技術(shù)，主要用于精確測量薄膜厚度，光學常數(shù)確定，觀測薄膜表面粗糙度和薄膜材料在物理，化學和材料的光學特性。功能強大分析軟件tfprobe3.0可分析測試薄膜材料的多種性能，如薄膜材料厚度、表面粗糙度、合金濃度、介電常數(shù)。
更新時間:2025-06-23
這種光子晶體探測器型的橢偏儀是有日本photonic lattice公司首創(chuàng)，并應用到橢偏儀的測試中。日本photonic lattice公司在光子晶體的研究和制造領域領先世界，由此開發(fā)出的光子晶體探測器型橢偏儀具有測試速度快、測量準確、免維護、價格低廉等特點已經(jīng)在光學薄膜、半導體薄膜、有機薄膜等領域有著廣泛的應用。該橢偏儀可快速準確測量薄膜的厚度和折射率的分布。
更新時間:2025-06-21
日本photonic lattic 通過以自研的偏振傳感器為核心的新一代全檢膜厚mapping橢偏儀，可以做到1000點/分鐘，6寸產(chǎn)品快可以在3分鐘內(nèi)完成，不僅如此，me-210-t針對透明基板也可測量。
更新時間:2023-01-03
solarbio 偏釩酸鈉 常用鹽別名：釩酸鈉；sodium vanadate(v)。分子式：navo3分子量：121.93cas＃：13718-26-8外觀：白色結(jié)晶或淺黃色結(jié)晶性粉末特性：溶解性：
更新時間:2022-05-01
jnd2.0qq群3322099-接待3008574353橢偏儀 jnd2.0qq群3322099-接待3008574353橢偏儀 jnd2.0qq群3322099-接待3008574353橢偏儀
更新時間:2020-09-27
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更新時間:2020-09-17
最新產(chǎn)品
- @市場推送901E-2531 32PT 2025/9/20 21:49:10
- 主推MR-J4-60B 2025/9/20 21:48:15
- @商務主推ABE6SH4511 2025/9/20 21:47:17
- 推出85115702Z069 2025/9/20 21:46:36
- @市場推選6EP1437-2BA20 2025/9/20 21:44:04
- 推出G6Q-TR2A 2025/9/20 21:43:31
- @商務主推XS16SI 85069 2025/9/20 21:42:58
- 推選45ASR-1JPB3-F4 2025/9/20 21:42:09
- 南京停車場劃線設計 車位劃線，熱熔劃線，納米硅劃線，地下車庫劃線 2025/9/20 21:41:17
- 推出750-610 2025/9/20 21:39:24
- 現(xiàn)貨DST1-ID12SL-1 2025/9/20 21:38:31
- @采購推選8719NH.00305 2025/9/20 21:37:46
- 推選V-RFM-20A HP02292A HP02293A HP02294A 2025/9/20 21:36:56
- 推出1746-OB16 2025/9/20 21:34:12
- 推送HG-KR43BJ 2025/9/20 21:33:25
- @市場推選PIB 651A-1500-3.3 KV/L 1343 2025/9/20 21:32:43
- 推送6ES7541-1AD00-0AB0 2025/9/20 21:31:56
- @市場推選SC26-2DE 85068 2025/9/20 21:29:05
- @商務主推V7768-322000 / GE CPU BOARD 2025/9/20 21:28:21
- 推出S-P11 XSC1-011 2025/9/20 21:27:44
- 現(xiàn)貨EE-SX675 2025/9/20 21:27:11
- 推出SGMPH-04AAA61D 2025/9/20 21:24:22
- 現(xiàn)貨HC-KFS053 2025/9/20 21:23:34
- @商務推出AT-1575-AES 2025/9/20 21:22:49
- @市場推選202552/01-8-01-4-4-03-23/000 2025/9/20 21:22:01
- 現(xiàn)貨6DD1611-0AD0 2025/9/20 21:19:11
- 推出2004_RF15BR1AS3 2025/9/20 21:18:20
- 推出557.202.047 2025/9/20 21:17:44
- @商務主推2464-SX(FA) 7PX25AWG(40/0.08) 2025/9/20 21:16:48
- @市場推選TI24 TrueView? 2025/9/20 21:14:15