P2000合金分析儀；X熒光光譜儀；金屬檢測儀
| Innov-X合金分析儀的特點 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 伊諾斯合金分析儀是現在進的便攜式合金分析系統，它使用極小的X射線管代替放射性同位素來解決更換資源和放射性擴散的問題。Innov-X合金分析儀無危險原料限制，可以應用到任何地方或者隨意運輸。伊諾斯合金分析儀具有小型的電腦軟件平臺，對合金分析非常靈活。用戶可自編輯升級的元數庫，用戶可自定義的分析和分類方法，多種數據輸入，直接下載結果到數據庫及擴展程序。X-射線管、小型電腦軟件，高分辯探測器使Innov-X合金分析儀成為世界上進，效，操作最簡單的合金分析系統。Innov-X合金分析儀能夠記憶所有元素的光譜，這個強大的分析儀能夠解決最困難的分析問題，同時它又是一個全天候直觀、快速的合金分析儀。 |  | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Innov-X合金分析儀的主要優點 |
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的手提及桌上應用解決方案 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
美國伊諾斯合金分析儀為手提及桌上應用提供的解決方案。手提式系統可接駁到桌上裝置。這個組合產生出使用交流電及的奔騰處理器技術的工業級桌上型分析儀，備有堅固耐用的測試平臺供大件零件使用，并可選擇升級至12"顯示器。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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X-Met3000TXR+X熒光光譜儀
牛津儀器發布了新型號的X-Met3000TXR+，它是一款快速、輕便的手持式XRF光譜儀。使用X-Met可以進行ROHS篩選性分析，它具有強大的測量時間開關控制功能，能夠快速地定量分析數據結果，并自動判別管制標準，以不同色彩加以識別，減少了人為誤判，為客戶提供的測量工具。
手持式XRF分析儀是專門針對歐盟ROHS指令中有害元素-鎘（Cd），汞（Hg），六價鉻（Cr6+），多溴聯苯（PBB），多溴聯苯醚（PBDE）的篩選性分析儀。中國政府ROHS指令將在2007年3月1日正式生效，美國一些州的環境條例也正在準備實施，這款儀器在檢測有害物質方面的巨大改進正及時滿足市場的需求。
新的儀器采用了的帕爾帖PentaPINTM 探測器 –牛津儀器專利PentaFET®探測技術，它快速測量各種被測元素并提高其檢測下限。在我們樣品分析過程中總能碰到一些特殊的樣品，由于其高規格的限制標準，比如鎘元素，更低的探測下限是無法替代的。X-MET3000TXR+不但能做到這點，同時裝備的時間控制開關，能夠滿足對這些ROHS樣品分析過程中長時間的分析要求，為客戶提供更加的數據結果。
對于 PentaPINTM 探測器來說，傳統的硅（Si-PIN）探測器，三十秒測量一個樣品所能達到的精度，新的探測器只需十秒就能同樣達到，大大減少了測量時間。對于塑料樣品的測量，能降低背體雜訊的吸收，相應增長其他元素的吸收率，改善了ROHS限制元素的檢測下限。尤其針對鉛和鎘的探測下限，有著成倍的提高，其它元素也有了顯著的改善。新的機型安裝了的操作軟件，用以處理新的探測技術所帶來的數據處理，大大提高測量結果的度。
X-MET3000TXR+操作界面十分完整，針對ROHS分析，為使用者提供了塑料、金屬和復合樣品的不同分析方法。同時分析數據可用不同色彩加以標識，方便檢測員快速判定樣品是否合格還是不合格。在我們提供版本軟件中，已添加了多種操作語言，比如，中文、俄語、德語、法語等多種語言供客戶選擇。
在樣品分析過程中，客戶所關心的輻射安全問題，牛津儀器可提供一種超大樣品室同時具備安全鎖桌面式的支架，供客戶選擇。當您在分析樣品，X—MET3000TXR+就處于一種相對封閉空間，起到一種屏蔽作用，從實質上改善了X-射線對人體輻射的問題。
牛津儀器工業分析部Oxford Instruments Industrial Analysis
牛津儀器公司在XRF分析技術領域擁有超過35年經驗，至今已有數以萬計的各種儀器在世界各地服務于各行各業。這些儀器可以廣泛地用于工業質量控制部門。XRF分析系統可以實現各種材料（固體、液體、粉末、糊狀物、油脂、薄膜等）中元素組成的快速、無損檢測。同時，也可實現樣品表面涂鍍層厚度或組成分析。
手持式XRF分析儀和移動式直讀光譜儀ARC-MET是對現場合金分類及PMI測試、ROHS指定中有害元素的檢測、質量控制尤為重要的工具。
Lab-X、Twin-X、ED2000 以及MDX1000各種XRF光譜儀應用于各種不同領域產品的日常分析。比如，石油產品的硫含量的分析，水泥中鈣含量，我們都能提供性能超群的光譜儀來滿足您的分析需求，因為我們具備多類產品共性選用。
對于各種不同薄膜的厚度測量要求，牛津儀器不但您提供各種不同型號的磁感和渦流的手持式測厚儀，同時還有各類高性能的XRF測厚儀。當前我們就推出款的XRF測厚儀X-Strata 960，供您選擇。
浙江X熒光光譜儀元素分析儀
【工作環境】：1. 環境溫度要求：15℃-30℃(建議有空調的環境使用)
2. 環境相對濕度：<70%
3. 工作電源：交流220±5V
4. 周圍不能有強電磁干擾。
【性能特點】：
1.采用DPP數字脈沖成型技術，計數率高，無漏計，穩定性好；
2.采用X光管激發樣品，一次激發全部待測元素，韌致輻射型，Be(鈹)窗厚50μm，靶材Ag(銀靶)，功耗低、壽命長，對輕重元素均有較高的激發效率；
3.采用世界上最先進的電致冷SDD半導體探測器，分辨率高，達到130ev，無需液氮制冷，使用方便，可以一次性完成對多種元素的探測；
4.高壓電源：電壓 0V-50kV連續可調；電流0-2mA連續可調，精度高，無故障操作；
5.樣品種類：塊狀；
6.腔內環境：空氣或真空；
7.真空環境測量，提高了輕元素的激發效率和測量范圍；
8. 2048道多道譜儀實時測量顯示，對樣品X光譜進行精細分析，系統可自動識別譜線，方便了解樣品的組成；
9.可一次性實現20多種元素的快速、無損、準確分析；
10.自動尋峰，消除譜峰漂移影響，確保儀器長期穩定；
11.專業的分析軟件，可以實現模式識別，自動分類，開放式軟件系統，用戶可以根據自身需要建立庫文件；
12.全中文Windows應用軟件，操作簡單。
13.融合了一系列先進的光譜處理方法，包括FFT（快速傅立葉變換濾波）、精準的背景扣除方法、微商自動尋峰和Quasi-Newton(準牛頓)優化算法等；
14.國際領先的XRF分析軟件，融合了包括經驗系數法、基本參數法（FP法）、理論α系數法等多種經典分析方法，全面保證測試數據的準確性。
15.可根據用戶要求自行定制測試報告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統計及格式要求。
16.數據管理設有用戶密碼，加強測試數據的嚴肅性及質量品控的可靠性。
【產品優勢】：
1.產品特點
精準、快速、無損、直觀、環保；
精準：測試結果可以接近濕化學方法測試；
快速：分析樣品中的幾十個元素只需幾分鐘；
無損：不會破壞被分析樣品的物理和化學特性；
直觀：分析結果以圖表方式直接呈現；
環保：不會對環境產生污染破壞；
【技術指標】：
1.分析元素：Na-U等.
2.分析范圍：1ppm-99.99%.
3.校正方式：采用歐盟RoHS標樣校準數據.
4.同時分析：26種元素同時分析.
5.能量范圍：1-50keV.
6.測量時間：1-3分鐘可以完成全部待測元素的含量分析.
7.進口電制冷半導體探測器的分辨率：130ev.
8.管電壓：0-50Kv 管電流： 1～2000 μA.
9.儀器的分析精度：標準偏差≤0.08%.
10.分析誤差：優于國家標準要求.
11.輻射劑量：<25μsv/h.
12.儀器重量：65Kg；尺寸： 650(W)×600(D)×730(H)mm
軟件
SPECTROX-3000B能量色散X熒光分析儀軟件壹套
計算機、打印機各一臺
計算機（品牌，P4，液晶顯示屏）、打印機（HP1001打印機）
資料
| 1.使用手冊（輻射監測報告、元素周期表） |
1套 |
| 2.培訓手冊（儀器操作規范流程、測試注意事項、制樣方法） | |
| 3.產品清單（客戶聯、留底聯），驗收單（客戶聯、留底聯），培訓記錄（客戶聯、留底聯），保修單，保養卡，售后服務承諾書 | |
| 4.合格證、測試軟件光盤 |
標準附件
| 真空泵 | 真空泵、組合表頭、電源線、控制盒、控制線、真空管、喉箍（2個） | |
| 配件 | 打印機 | 1臺 |
| 吸塵器 | 1臺 | |
| 攝像頭連接線、攝像頭驅動程序及使用手冊 | 1套 | |
| 樣杯、薄膜、保鮮膜 | 2套 | |
| 保險管10A、保險管5A | 各10只 | |
| 樣勺 | 1個 | |
| 樣品盒 | 1個 | |
| 工具箱 | 1個 | |
| 十字改刀，一字改刀 | 2把 | |
| 剪刀 | 1把 | |
| 內六角扳手 | 1套 | |
| 活動扳手 | 1把 | |
| 毛刷 | 1把 | |
| 毛巾 | 1條 | |
| 洗耳球 | 1個 | |
| 手套 | 1副 | |
【適用范圍】：
可對各類材料成分除碳元素（C）外的其它元素進行定性及及定量分析，包括對其它同類儀器難以分析的Mg、Al、SI、S、P、Mm等元素也有較好的表現。
有色行業：銅合金樣品及鉛鋅礦、銅礦、銀礦、鉬礦、鉛黃銅等各種成份分析。
粉末冶金行業：對針粉末冶金行業的各種成分分布不均勻的產品特性，采用特有的檢測方案，可以較準確的對粉末原材料或產品進行定性定量分析。
EDX-Pocket-I能量色散X熒光光譜儀EDX-Pocket-I
專為RoHS 測試而開發的 是Skyray2006推出的又一記重磅。繼EDX3000B風靡整個行業之后，其另一有力搭檔,全球體積最小，重量最輕的EDX-Pocket-I應運而生。 流線型的外形，帶給您的視覺沖擊；高貴大方的色彩，盡顯尊貴與穩重的獨特魅力；精巧的內核，真正實現科技的濃縮之美；嚴謹的保護裝置，實現安全的防火墻；小巧輕便，將人性化理念落實入微。 |
ROHS檢測儀:X熒光光譜儀
檢測儀器名稱：EDX3000B（開放式）
樣品室尺寸：1000＊1000＊300mm
工作電源：220U±5U
高壓：15～50KV
管流：50～100MA
計數率：1300-8000Cps
有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的檢出限高達1PPM
電致冷硅針半導體探測器
加強金屬元素感度分析
測量時間為：60～300秒
無損樣品，前處理簡單
能分析出塑料中含有的1PPM的鎘
直觀的軟件操格界面
簡便的儀器操作方式
自動編制附帶合格與否判定結果的檢測報告
全分析結果報告
手持式X熒光光譜儀直銷
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型號：X-MET5100 品牌：牛津儀器Oxford 產地：芬蘭
進的硅漂移探測器 （SDD）技術， 無與倫比的檢測能力和檢測速度！ 面向材料性鑒定（PMI）的光譜儀 快速牌號鑒定，鋁也可以輕松辨別！
一、儀器介紹： X-MET5100 手持式X射線熒光光譜儀通過硅漂移探測器 （SDD） 和 X 射線管的獨特耦合技術，了鋁及鈦合金的實驗室質量分析的精確性，它對檢測銅、鎳和鋼等金屬材料中含有的輕金屬元素時的敏感性也是無與倫比的，無需借助復雜的真空泵或氦氣罐等附屬設備就可對鎂、鋁、硅等輕元素進行測量。 硅漂移探測器 （SDD）、45 千伏 X 射線管和經驗系數分析方法的強大結合，意味著 X-MET5100 可以在短短 1 秒鐘內，地分析和確定金屬合金成分。受限物質（重金屬元素）、玩具中的鉛、土壤中的污染物和礦石中的微量物質可以得到測量，其速度之快，在從前是絕無可能的。在幾秒鐘之內，就可以得到 ppm 級的痕量元素檢測結果。 這款堅固的便攜式 XRF 輕元素測試工具，專為以下行業應用而設計： u 金屬材料性鑒定（PMI） u 廢舊金屬回收行業 u 環境重金屬監測（土壤和RoHS） u 航空和汽車工業 u 礦石勘察、現場挖掘控制和礦山制圖
二、合金分類&廢舊金屬回收分揀的工具： X-MET5100 X射線熒光（XRF）光譜儀能夠以無與倫比的速度和檢測精度，提供的實時檢測結果。 這種的便攜式檢測工具——對金屬回收、塑料回收、電子制品及木材回收而言必不可少 ——實現在無需真空泵或氦氣罐附屬裝置的條件下，即可對6061/6063合金進行分揀。
n 快速牌號鑒定，快速廢舊金屬分揀！ n 1秒無損檢測，完成合金分類和質量控制！ n 各種合號的鑒定，合金分類和牌號鑒定只需1秒！ n 的鋁Al、鎂Mg、硅Si、磷P分析，無需真空泵或氦氣罐； n 快速的鉻Cr、鎳Ni、鉬Mo、銅Cu分析，即使在低含量條件下； n 檢測下限低至ppm級； n 堅固耐用；經IP54 （NEMA 3） 認證，防塵、放潮防潮特高強度的環境密封型外殼，可經受所有天氣條件； n 電池可提供的操作時間，電池和用戶界面帶有電量指示器； n “一鍵式檢測”，簡便、儀器簡單易學； n 方便的數據存儲與輸出，基于 PDA 的技術的靈活性和簡便性。
X-MET5100 將強大的輕元素檢測能力與 XRF技術的無損特性相結合，是航空航天業用于分析成品或敏感樣品以及檢測鎂、鋁、硅和磷等輕元素的寶貴工具。核電工業中的流速促進型腐蝕（FAC）檢測及汽車制造中微合金鋼的質量控制（QC）等具有挑戰性的痕量元素分析可在幾秒鐘內完成！
三、硅漂移探測器技術，大大提高生產力! 進的 X-MET5100將牛津儀器的硅漂移探測器（SDD） 和強大的45千伏 X 射線管結合起來，顯示了儀器設計上的革命性突破。與普通設備相比，應用該項尖端技術能使測量速度提高5倍，進一步優化檢測極限并顯著提高測量精度。現在正是使用 X-MET 以提高您的生產效率和篩選分析結果可信度的時候。
四、三種分析模式選擇 1、需精確檢測結果時可選擇可追溯的經驗系數法校準模式 可使用電腦軟件包（任選軟件）創建自定義經驗系數法校準曲線。 2、無標樣時可選擇基本參數校準模式 此通用型校準可測定原子序數從氯到鈾間的30多種元素 （X-MET5000），鎂到鈾間的元素 （X-MET5100） 。 3、如僅需鑒別幾種不同材料時，可選合格/不合格模式 用戶自定義合格/不合格及報警模式。
五、廣泛的開放式牌號庫 X-MET 可允許方便地編輯牌號庫，包括增加新型合金以及為合金命名。 合金庫包括： n 鎳合金 n 不銹鋼 n 鈷合金 n 低合金鋼 n 工具鋼 n 鋼合金 n 鈦合金 n 鋯合金 n 鋁合金 X-MET 能夠存儲數千種牌號，并可方便地添加新元素，或創建自定義的牌號庫。
六、對樣品適配性更優，無需前處理 n 只需對準樣品即可進行測試； n 可分析已知和未知樣品； n 可對管件、焊縫的耐蝕性和壓力設備的合金成進行檢測； n 鑒定直徑小于 1 毫米的管線只需幾秒鐘。 |
Port-X200手持式X熒光光譜儀，手持式光譜儀，廣西手持式光譜儀
原子熒光光譜儀,近紅外光譜儀,紅外光譜儀, X射線熒光光譜儀,X熒光光譜儀,
技術指標: 分析范圍 :30%---99.99% 測量時間 :60---300 秒 測量精度 :0.1% 測量范圍 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt重 量 :30KG 尺 寸 :350＊500＊400mm X射線源 :X射線光管。 探測器 :正比計數管
儀 器 配置：
單樣品腔正比計數器放大電路 高低壓電源 X光管
UX-220華唯能量色散X熒光光譜儀
| 技 術 參 數 |
| 1、 儀器尺寸：640（W）x474（D）x412（H）mm |
| 2、 樣品腔尺寸： 小樣品腔：300*300*100mm； 大樣品腔：無限制，小于30公斤 |
| 3、 重量：約48Kg |
| 4、 工作環境溫度：溫度15—30℃ |
| 5、 工作環境相對濕度：≤85%（不結露） |
| 6、 可分析元素范圍 ： Cl-U ppm級 |
| 7、 檢出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm,Cl≤60ppm |
| 8、 測量時間 ：200-400s （ 系統自動調整 ） |
| 9、 分辨率：149±5eV |
| 10、 輸入電源：AC220V～240V，50Hz |
| 11、 額定功率：350W |
| 3.1 探測系統 | |
| 1、探測器 類型：電制冷Si-PIN探測器 制造商：美國Amptek公司生產 （采用PIN結構的高性能電致冷半導體探測器） Be窗厚度：1mil DC5V電源供電，USB超高速信號輸出， 致冷方式：采用2級半導體致冷 探測器晶體厚度：500μm 探測靈敏面積：6mm2 集成MCA多道脈沖分析系統，2048道（8192道） 分辨率能達到149±5eV； | |
| 3.2 X光管 | 圖 片 |
| 制 造 商：丹東科維 電 壓: 0 ~ 50 kV 最大電流: 1.0 mA 最大功率: 50 W 燈絲電壓: 2.0V 燈絲電流: 1.7 A 射線取出角：12° 靶 材：Mo Be窗厚度：0.5mm | |
| 3.3 高壓電源 | 圖 片 |
| 生 產 商：美國Spellman公司生產 輸入電壓: DC +24V±10% 輸入電流：4.0A（最大） 輸出電壓: 0 -50KV & 1mA 最大功率：50W 電壓調整率：0.01% （從空載到滿載） 電流調整率：0.01% （從空載到滿載） 紋波系數：0.1% （P-P值），8小時穩定性：0.05% | |
| 3.4 微動平臺與高分辨率CCD | |
| 載物測試平臺，配有微調裝置，可方便的實現檢測物的定位與檢測區域的調整。 130萬像素的CCD攝像頭，可的實時觀察測試區域狀況，并拍下物料照片，作為檢測報告的組成部分。 | |
| 3.5 大樣品腔 | |
| 小樣品腔尺寸（閉倉門測試）：300*300*100mm 大樣品腔尺寸（開倉門測試）：無限制，部分取代手持式功能。 | |
| 3.6 散熱系統 | |
| 三維散熱系統，大幅度提供儀器的性、穩定性。 | |
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| 三重射線防護系統（軟件、硬件、迷宮式設計），開蓋測試自動警示系統。 | |
| 4.1 儀器操作軟件功能 |
| 1、功能 |
| 1、可以輕松應對歐盟ROHS、無鹵、EN-71、美國HR4040、 ASTM963及其他控制元素的相應環保指 令 。根據客戶實際情況還可以對銅合金材料進行成分分析，取代了傳統的火花直讀光譜儀。 2、元素分析范圍：從氯（Cl）到鈾（U）， 3、分析方法：綜合應用經驗系數法、基本參數法，FP法等； 4、分析報告：多種語言格式（簡體中文 繁體中文 英文等）及文檔格式報告，如Excel、 PDF等，預設標準模板，用戶還可以自定義模板格式，所有文檔可自由打印和保存； 5、數據自動保存：所有樣品測試后的數據均會自動保存，測試結果具有可追溯性； 6、穩定性自檢功能：可即時對儀器當前穩定性進行自動檢測； 7、操作界面多語種:英語、簡體中文、繁體中文等。 |
| 2、特點： |
UX-310華唯rohs檢測儀XRF測試儀
Ux-310多功能分析儀專門應對RoHS指令，無鹵指令，WEEE指令，土壤、礦石成分分
1．三重射線保護（軟件、硬件、迷宮設計），確保操作人員人身安全與意外操作帶來的
1、儀器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm