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CMI700PCBCMI700銅厚測(cè)試儀

CMI-700PCB面銅及孔銅厚度測(cè)量儀

--銅厚測(cè)量范圍：

－－化學(xué)銅：10 μin – 500 μin （0.25 μm – 12.7 μm）

－－電鍍銅：0.1 mil – 6 mil （2.5 μm – 152 μm）

－－線形銅可測(cè)試線寬范圍：8 mil – 250 mil （203 μm – 6350 μm）

－－度：±1% （±0.1 μm）參考標(biāo)準(zhǔn)片

－－精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 %

－－分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,

0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

牛津儀器測(cè)厚儀器CMI760專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。 CMI760可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度和精確的測(cè)量。CMI 760臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。同時(shí)CMI760具有的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。

CMI760銅厚測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

SRP-4面銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：

銅厚測(cè)量范圍：化學(xué)銅：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm) 電鍍銅：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm) 線形銅可測(cè)試線寬范圍：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm) 度：±1% (±0.1 μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 % 分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

ETP孔銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：

可測(cè)試最小孔直徑：35 mils (899 μm) 測(cè)量厚度范圍：0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm) 電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) 精確度：1.2 mil（30μm）時(shí)，達(dá)到1.0% （實(shí)驗(yàn)室情況下）分辨率：0.01 mils (0.1μm)

TRP-M（微孔）探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：

最小可測(cè)試孔直徑范圍：10 – 40 mils (254 – 1016 μm) 孔內(nèi)銅厚測(cè)試范圍：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）最大可測(cè)試板厚：175mil （4445 μm）最小可測(cè)試板厚：板厚的最小值必須比所對(duì)應(yīng)測(cè)試線路板的最小孔孔徑值高3mils(76.2μm) 度（對(duì)比金相檢測(cè)法）：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) ±10%≥1mil(25 μm) 精確度：不建議對(duì)同一孔進(jìn)行多次測(cè)試分辨率：0.01 mil(0.1 μm)

美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)片

測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片，雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學(xué)鍍層片。如:

單鍍層：Ag/xx, 雙鍍層：Au/Ni/xx , 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層：Sn-Pb/xx, 化學(xué)鍍層：Ni-P/xx.

我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素,鍍層結(jié)構(gòu),鍍層厚度等要求向美國工廠定做標(biāo)準(zhǔn)片,并可出據(jù)標(biāo)準(zhǔn)片厚度值證書.

我公司是一精密測(cè)試儀器代理商，為香港儀高集團(tuán)附屬成員. 我集團(tuán)在中國和香港地區(qū)代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測(cè)厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測(cè)厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量，而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量。歡迎隨時(shí)來電咨詢或親臨我司測(cè)試及參觀!!!

多年來，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業(yè)，科研機(jī)構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo)，因?yàn)槲覀儓?jiān)信，客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖！欲了解產(chǎn)品詳情，請(qǐng)與我們聯(lián)系或訪問http://eastco.18show.com.cn

xrf-2000H特價(jià)膜厚測(cè)試儀

韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀

Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量,同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測(cè)量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整.超大/開放式的樣品臺(tái),可測(cè)量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度.

可測(cè)元素范圍：

鈦（Ti） – 鈾（U）

可測(cè)量厚度范圍：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細(xì)對(duì)焦

高壓：0-50KV（程控）

準(zhǔn)直器：

固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動(dòng)種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡單的核對(duì)方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.

統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì).

該公司產(chǎn)品分類：精密儀器

偏光片反射率測(cè)試，ITO薄膜反射率測(cè)試，TouchPannel反射率測(cè)試，導(dǎo)光板鍍膜膜厚測(cè)試，Low-e玻璃反射率測(cè)試，汽車車燈鍍膜膜厚測(cè)試,涂層膜厚測(cè)試儀

儀器簡介

AS-300反射率測(cè)試儀器是一款高精度反射率測(cè)試儀器，可測(cè)量整體反射率值，反射率光譜。操作方便快捷，適用與偏光片反射率測(cè)試，ITO薄膜反射率測(cè)試，TouchPannel反射率測(cè)試，導(dǎo)光板鍍膜膜厚測(cè)試，Low-e玻璃反射率測(cè)試，汽車車燈鍍膜膜厚測(cè)試等。

儀器功能：

·光譜測(cè)量在波長范圍內(nèi)進(jìn)行反射度能量的圖譜掃描,并可進(jìn)行各種數(shù)據(jù)處理如峰谷檢測(cè)、導(dǎo)數(shù)運(yùn)算、譜圖運(yùn)算等.·數(shù)據(jù)輸出可進(jìn)行數(shù)據(jù)文件和參數(shù)文件的存取,測(cè)量結(jié)果以標(biāo)準(zhǔn)通用的數(shù)據(jù)文件格式輸出

關(guān)鍵字：偏光片反射率測(cè)試，ITO薄膜反射率測(cè)試，TouchPannel反射率測(cè)試，導(dǎo)光板鍍膜膜厚測(cè)試，Low-e玻璃反射率測(cè)試，汽車車燈鍍膜膜厚測(cè)試

AS-300 反射率測(cè)試儀器

技術(shù)參數(shù)

波長精度：0.2nm

校正線性度：99.8%

測(cè)量誤差：1%以下

單次測(cè)量時(shí)間：最小100ms

功耗：200W

電源：210~245V，60Hz

信號(hào)接口：USB2.0

操作系統(tǒng)：windows

波長范圍：200-1100 nm

數(shù)據(jù)傳輸速率：每4ms 一個(gè)全掃描入存儲(chǔ)器（USB2.0 接口），18ms（USB1.1）

每300ms 一個(gè)全掃描入存儲(chǔ)器（串行口）

探測(cè)器：3648 像素的線型硅CCD 陣列 8um × 20um

光柵：14 種光柵，波長從紫外到近紅外

積分時(shí)間：10um～65min

入射孔徑：寬5, 10, 25, 50, 100 或200um 的狹縫或光纖（無狹縫）

光纖連接：SMA905 接口，與0.22NA 的單股光纖相連

各類濾波片：長波通或帶通濾波片，安裝在光譜儀內(nèi)

電子控制：8 個(gè)數(shù)字GPIO 接口電子快門控制（最短10um）

焦距：42 mm（輸入）， 68 mm（輸出）

光學(xué)分辨率：0.3 nm FWHM（與光柵和狹縫寬度的選擇有關(guān)）

動(dòng)態(tài)范圍：2×108（系統(tǒng)），1300:1（單個(gè)掃描信號(hào)）

主要特點(diǎn)：

·設(shè)計(jì)的優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng),高性能的全息閃耀光柵,確保了儀器的低雜散光.

·雙光束測(cè)光系統(tǒng),配合設(shè)計(jì)的電路測(cè)控系統(tǒng).使儀器具有高度的穩(wěn)定性和

極低的噪聲.

全自動(dòng)的控制系統(tǒng),的設(shè)計(jì)理念,確保儀器具有高性和高穩(wěn)定性.

·可拆卸結(jié)構(gòu)的樣品室設(shè)計(jì),易于更換不同的附件.以滿足不同的分析需求.

·寬敞型開放式光源室設(shè)計(jì),使燈源更換更加方便.

·所有部件均選用進(jìn)口器件.了儀器性能的高性.

·windows 環(huán)境下開發(fā)的中英文操作軟件,具有多項(xiàng)專利技術(shù).提供了豐富的

獨(dú)具特色的分析功能.

該公司產(chǎn)品分類：其實(shí)電子測(cè)試儀器電子測(cè)試儀系統(tǒng) 儀器儀表

OU3100鍍層膜厚測(cè)試儀廠家,鍍層膜厚測(cè)試儀價(jià)格

一、應(yīng)用：

OU3100F型膜厚儀測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。OU3100N型膜厚儀測(cè)量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。OU3100FN型膜厚儀采用磁感應(yīng)與電渦流兩種原理集一體式，可以測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層與測(cè)量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

二、技術(shù)參數(shù)-OU3100型膜厚儀

型號(hào)	OU3100F	OU3100N	OU3100FN
測(cè)定對(duì)象	磁性金屬上非磁性涂鍍層	非磁性金屬上絕緣層	磁性金屬上非磁性涂鍍層及非磁性金屬上絕緣層
測(cè)量方法	F 磁感應(yīng)	NF 渦流	F 磁感應(yīng)/NF 渦流
測(cè)量范圍	0-1250um（更厚涂層請(qǐng)選用OU3500型）
分辨率	1um
準(zhǔn)確度	一點(diǎn)校準(zhǔn)：±：（3%H+1um）二點(diǎn)校準(zhǔn)：±：（1%H+1um）
最小曲面	F: 凸1.5mm/凹25mm N: 凸3mm/凹50mm
最小測(cè)量面積	7mm
最薄基底	0.5mm
自動(dòng)關(guān)機(jī)	自動(dòng)關(guān)機(jī)
使用環(huán)境	溫度：0-40℃ 濕度：10-90%RH
電源	2節(jié)7號(hào)電池
電池電壓指示	低電壓提示
外形尺寸	115×70×30mm
重量	80g（不含電池）

資料來源：滄州歐譜膜厚儀 http://www.mohouyi.com

該公司產(chǎn)品分類：檢測(cè)儀器

美國bowm博曼膜厚測(cè)試儀

美國博曼膜厚測(cè)試儀是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測(cè)量及材料分析設(shè)備。在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力，可進(jìn)行多鍍層厚度的測(cè)量。高分辨硅-PIN-探測(cè)器，配合快速信號(hào)處理系統(tǒng)能達(dá)到極高的精確度和非常低的檢測(cè)限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測(cè)定.可測(cè)量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等.二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金.三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金.雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等.雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。此儀器特別適合于小的鍍層測(cè)量，如端子，連接器，細(xì)小的金線，在五金，汽車配件．線路板．衛(wèi)浴，等行業(yè)．也有杰出的表現(xiàn)．可測(cè)量．單層．雙層，合金層等多種鍍層.如果您有什么問題或要求，請(qǐng)您隨時(shí)聯(lián)系我們。您的任何回復(fù)我們都會(huì)高度重視。金東霖祝您工作愉快！聯(lián)系人：舒翠 136 0256 8074 QQ:2735820760

該公司產(chǎn)品分類：膜厚儀

CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀

供應(yīng)CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀

深圳市奔藍(lán)科技有限公司專業(yè)代理銷售牛津儀器測(cè)厚儀器。集銷售、安裝、維護(hù)、維修及培訓(xùn)一體化服務(wù)！

牛津儀器測(cè)厚儀器CMI760專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。

CMI760可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。CMI 760臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。

同時(shí)CMI760具有先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。

技術(shù)參數(shù)

SRP-4面銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－- 銅厚測(cè)量范圍：化學(xué)銅：10 μin – 500 μin （0.25 μm – 12.7 μm）電鍍銅：0.1 mil – 6 mil （2.5 μm – 152 μm）線形銅可測(cè)試線寬范圍：8 mil – 250 mil （203 μm – 6350 μm）準(zhǔn)確度：±1% （±0.1 μm）參考標(biāo)準(zhǔn)片精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 % 分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm ETP孔銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－- 可測(cè)試最小孔直徑：35 mils （899 μm）測(cè)量厚度范圍：0.08 – 4.0 mils （2 – 102 μm）電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定準(zhǔn)確度：±0.01 mil （0.25 μm） < 1 mil （25 μm）精確度：1.2 mil（30μm）時(shí)，達(dá)到1.0% （實(shí)驗(yàn)室情況下）分辨率：0.01 mils （0.1μm） TRP-M（微孔）探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－- 最小可測(cè)試孔直徑范圍：10 – 40 mils （254 – 1016 μm）孔內(nèi)銅厚測(cè)試范圍：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）最大可測(cè)試板厚：175mil （4445 μm）最小可測(cè)試板厚：板厚的最小值必須比所對(duì)應(yīng)測(cè)試線路板的最小孔孔徑值高3mils（76.2μm）準(zhǔn)確度（對(duì)比金相檢測(cè)法）：±0.01 mil （0.25 μm） < 1 mil （25 μm） ±10%≥1mil（25 μm）精確度：不建議對(duì)同一孔進(jìn)行多次測(cè)試分辨率：0.01 mil（0.1 μm）

十多年來，深圳奔藍(lán)科技一直服務(wù)于PCB 廠商、五金電鍍、連接器、LCD、科研機(jī)構(gòu)、高校、質(zhì)量檢測(cè)中心、半導(dǎo)體、微電子、光電子、光通訊等領(lǐng)域。我們提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和最優(yōu)質(zhì)的服務(wù)都得到客戶最高的獎(jiǎng)勵(lì)，在未來,我們將繼續(xù)履行客戶的期望、要求和需要。

深圳市奔藍(lán)科技有限公司 Shenzhen BenLion Technologies Co., Ltd.

電話：0755-2307 6745 傳真：0755-2307 6746

劉先生13640948714 QQ : 1017646692

郵件：1017646692@qq.com 網(wǎng)站：http://www.benlion.com

地址：深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道鳳凰崗水庫路香雅閣1607

該公司產(chǎn)品分類：供應(yīng)CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀 CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀

無損膜厚測(cè)試儀

儀器介紹

天瑞儀器92年就開始做光譜儀，經(jīng)過多年的積累，在鍍層厚度檢測(cè)方面，我們直保持內(nèi)：主要原因是我們的性價(jià)比與售后服務(wù)具有很強(qiáng)的競(jìng)爭力，這個(gè)優(yōu)勢(shì)不僅僅體現(xiàn)在購買價(jià)格上，也體現(xiàn)在產(chǎn)品生命周期花費(fèi)的總體成本上。Thick600是天瑞儀器價(jià)格優(yōu)的鍍層測(cè)厚儀；儀器采用下照式結(jié)構(gòu)，適合平面樣品的檢測(cè)，配置的軟件界面簡潔，測(cè)試樣品用時(shí)40S，售后服務(wù)及時(shí)。

鍍層厚度測(cè)試方法般有以下幾種方法：

1 光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005

2 X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005

3 庫侖法，此法般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005

測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

1標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法

2.美標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

應(yīng)用領(lǐng)域

鍍層厚度分析；

RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl檢測(cè)；

合金成分分析；

樣品測(cè)試步驟

1.每天開機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開測(cè)試軟件“FpThick”：

用戶使用“Administrator”，密碼：skyray

2.進(jìn)入測(cè)試軟件后，選擇“測(cè)試條件”

點(diǎn)擊“確定”，即測(cè)試條件確定（儀器已設(shè)置好）

3.選擇“工作曲線”

如待測(cè)樣品是鐵鍍鎳，則選擇Ni-Fe；其他依次類推

4.放入“Ag片”對(duì)儀器進(jìn)行初始化

初始化完成后，（峰通道為1105，計(jì)數(shù)率達(dá)到定的數(shù)，如300以上）。

5.待測(cè)樣品測(cè)試

放入待測(cè)的樣品，通過攝像頭畫面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況，以及儀器的X射線的聚焦點(diǎn)。可以通過軟件提供的十字坐標(biāo)（也稱十字光標(biāo)）來定位該聚焦點(diǎn)，將樣品放在聚焦點(diǎn)位置。點(diǎn)擊“開始”，輸入樣品名稱后“確定”。

6.測(cè)試完成后即可保持報(bào)告，報(bào)告的位置可以在桌面的“分析報(bào)告”快捷方式中的“鍍層報(bào)告”中找到。

注意：測(cè)試鍍層樣品時(shí)，必須先要確定是什么鍍層、選擇好對(duì)應(yīng)的工作曲線測(cè)試。

技術(shù)參數(shù)

1 分析元素范圍：S-U

2 可分析多達(dá)3層以上鍍層

3 分析厚度檢出限高達(dá)0.02μm

4 多次測(cè)量重復(fù)性高可達(dá)0.05μm

5 定位精度：0.5mm

5 測(cè)量時(shí)間：30s-300s

6 計(jì)數(shù)率：1000-8000cps

7 儀器適合測(cè)試平面。以單層Fe鍍Ni的標(biāo)樣為例，分析的范圍是0.02—30um，在這個(gè)范圍內(nèi)，才能檢測(cè)。0.5-10um的，偏差是5%，就是說真值是1um，用儀器測(cè)試的值是0.95-1.05um。

性能優(yōu)勢(shì)

下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求

準(zhǔn)直器和濾光片手動(dòng)切換：不同樣品材質(zhì)用不同的準(zhǔn)直器

移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)

高分辨率探測(cè)器：提高分析的性

新代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率

儀器硬件配置

1. 探測(cè)器

2. 高、低壓電源

3. X光管

4. MCA多道分析器

5. 高精密攝像頭

6. 移動(dòng)平臺(tái)（自動(dòng)）

7. 準(zhǔn)直器

8. 標(biāo)準(zhǔn)樣品

質(zhì)量、技術(shù)服務(wù)

1.儀器進(jìn)行終身維修；

2.軟件免費(fèi)升級(jí)：如有軟件升級(jí)，乙方將免費(fèi)提供軟件升級(jí)，不再收取升級(jí)費(fèi)用；

3.保修條款

3.1乙方對(duì)本合同銷售儀器設(shè)備自驗(yàn)收合格之日起免費(fèi)保修1年；

3.2保修期結(jié)束后，乙方為甲方提供維修服務(wù)的資費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)如下：

交通費(fèi)、住宿費(fèi)由甲方承擔(dān)；

資費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)：硬件成本費(fèi)用——按乙方時(shí)價(jià)計(jì)算

硬件運(yùn)輸費(fèi)——實(shí)報(bào)實(shí)銷

服務(wù)費(fèi)——300元 / 人 / 天

人員交通費(fèi)——實(shí)報(bào)實(shí)銷

人員住宿費(fèi)用——￥300元/天

4.技術(shù)服務(wù)的響應(yīng)期限：提供的技術(shù)服務(wù)，在接到用戶故障信息后，4小時(shí)內(nèi)響應(yīng)；如有

必要，12～72個(gè)小時(shí)內(nèi)派人上門維修和排除故障。

廠家優(yōu)勢(shì)

天瑞公司有完善的質(zhì)量管理體系，從進(jìn)口核心零部件的檢測(cè)開始，到儀器的組裝，數(shù)據(jù)的標(biāo)定及考核，均嚴(yán)格把關(guān)，能夠很好的控制產(chǎn)品的質(zhì)量。公司嚴(yán)格按ISO9001質(zhì)量體系的要求，進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量的管理，每道工序進(jìn)行嚴(yán)格的檢驗(yàn)，絕不允許不合格的流到下到工序；不合格的產(chǎn)品不出廠，堅(jiān)決做到“三不”和“三不放過”，確保產(chǎn)品質(zhì)量，用戶使用放心。

廠家介紹

天瑞儀器是內(nèi)大的分析儀器廠家，公司主營產(chǎn)品X熒光檢測(cè)儀具有快速、、無損的特點(diǎn)。X熒光分析儀可以應(yīng)用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的領(lǐng)域，如：電子電器（RoHS檢測(cè)）、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)）、玩具安（EN71-3）、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(鋼鐵、有色金屬)、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地質(zhì)采礦、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)甚至人體微量元素的檢驗(yàn)等等。

該公司產(chǎn)品分類：波長色散X射線熒光光譜儀WDX4000 氣質(zhì)聯(lián)用儀GC-MS6800 手持式RoHS檢測(cè)儀膜厚儀Thick800A RoHS檢測(cè)儀EDX1800B 鍍層測(cè)厚儀Thick800A ICP3000電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀大氣重金屬在線監(jiān)測(cè)儀電感耦合等離子體質(zhì)譜儀ICP-MS 液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀原子熒光光譜儀 AAS原子吸收光譜儀水質(zhì)在線分析儀 X熒光測(cè)硫儀食品重金屬檢測(cè)儀高頻紅外碳硫分析儀碳硫分析儀礦石分析儀糧食重金屬快速檢測(cè)儀銅合金分析儀

Thick800A電鍍膜厚測(cè)試儀

電鍍膜厚測(cè)試儀測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法美標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

什么是電鍍

電鍍是利用電解原理在某些金屬表面鍍上薄層其它金屬或合金的過程，是利用電解作用使金屬或其它材料制件的表面附著層金屬膜的工藝，從而起到防止腐蝕、提高耐磨性、導(dǎo)電性、反光性及增進(jìn)美觀等作用。電鍍分為掛鍍、滾鍍、連續(xù)鍍和刷鍍等方式，主要與待鍍件的尺寸和批量有關(guān)。改革開放以后，電鍍工業(yè)也進(jìn)入快速發(fā)展時(shí)期，大批境外廠家進(jìn)入中長三角、珠三角、渤海灣等地區(qū)。十二五期間，電鍍技術(shù)的應(yīng)用熱點(diǎn)將繼續(xù)由機(jī)械、輕工等行業(yè)向電子、鋼鐵行業(yè)擴(kuò)展轉(zhuǎn)移，由單純防護(hù)性裝飾鍍層向功能性鍍層轉(zhuǎn)移，由相對(duì)分散向逐漸整合轉(zhuǎn)移。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

樣品處理方法簡單或無處理

可快速對(duì)樣品做定性分析

對(duì)樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析

譜線峰背比高,分析靈敏度高

不破壞試樣,無損分析

試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)

設(shè)備、維修、維護(hù)簡單

便捷、低廉的售后服務(wù)

性能特點(diǎn)

1.滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

2.φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

3.高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

4.采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度

5.定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

6.鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)

7.高分辨率探頭使分析結(jié)果更加

8.良好的射線屏蔽作用

9.測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

開放式樣品腔。

精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測(cè)器。

信號(hào)檢測(cè)電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護(hù)傳感器

計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

參數(shù)規(guī)格

型號(hào)：Thick800A電鍍膜厚測(cè)試儀

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）。

次可同時(shí)分析多24個(gè)元素，五層鍍層。

分析含量般為2ppm到99.9%。

鍍層厚度般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

儀器尺寸：576（W）x495（D）x545（H）mm

重量：90kg

該公司產(chǎn)品分類： EDX2000A 鉬錳層電鍍鎳測(cè)厚儀 rohs2.0環(huán)保測(cè)試儀凹槽鍍金膜厚儀 ROHS2.0檢測(cè)儀器 ROHS2.0測(cè)試設(shè)備 ROHS2.0十項(xiàng)測(cè)試儀歐盟rohs2.0分析儀 rohs2.0有機(jī)物測(cè)試儀 ROHS2.0檢測(cè)設(shè)備鄰苯4P快速分析儀 ROHS十項(xiàng)檢測(cè)儀 X射線膜厚儀 ROHS新增四項(xiàng)檢測(cè)儀手持式光譜分析儀光譜鍍層測(cè)厚儀手持式x熒光分析儀不銹鋼檢測(cè)光譜儀重金屬測(cè)試儀器icp X射線光譜測(cè)厚儀

CMI700PCBCMI700銅厚測(cè)試儀

CMI760 CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀

美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)片

xrf-2000H特價(jià)膜厚測(cè)試儀

偏光片反射率測(cè)試，ITO薄膜反射率測(cè)試，TouchPannel反射率測(cè)試，導(dǎo)光板鍍膜膜厚測(cè)試，Low-e玻璃反射率測(cè)試，汽車車燈鍍膜膜厚測(cè)試,涂層膜厚測(cè)試儀

OU3100鍍層膜厚測(cè)試儀廠家,鍍層膜厚測(cè)試儀價(jià)格

美國bowm博曼膜厚測(cè)試儀

CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀

無損膜厚測(cè)試儀

Thick800A電鍍膜厚測(cè)試儀

最新產(chǎn)品