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111熒光光譜儀

【激光系列產品】

固體激光器半導體激光器氣體激光器離子激光器光纖激光器大功率光纖耦合激光器皮秒激光器飛秒激光器調Q脈沖激光器激光二極管控制器激光功率計激光護目鏡激光波長測量激光光束分析儀多通道激光功率計大功率激光器激光光束位置測量儀激光擴束鏡激光準直器紅外激光顯示卡紅外激光觀察儀紅外觀察儀激光測距儀激光器溫度控制器激光光纖耦合器高穩定性激光器相干型激光器自相關儀飛秒激光倍頻器可變光闌便攜式激光器染料激光器激光光譜測量熱電制冷片激光光束定位系統 2微米光纖激光器飛秒光纖激光器皮秒光纖激光器脈沖光纖激光器光纖隔離器拉曼激光器光功率計

【光譜測試儀器】

紫外可見光譜儀便攜式光譜儀高分辨率光譜儀高靈敏度光譜儀制冷型光譜儀中紅外光譜儀熒光光譜儀拉曼光譜儀極紫外光譜儀真空紫外光譜儀多通道光譜儀教學型光譜儀 LED光測量光譜儀色坐標色溫測量儀燈具光譜測量儀透射譜吸光度光譜儀絕對輻射光譜儀流體吸光度光譜儀流體熒光光譜儀膜厚測量儀橢偏儀太陽能電池IPCE測量系統太陽能電池QE測量系統太陽能電池光譜響應系統單色儀濾光片輪濾光片透射率測試儀太赫茲光譜儀等離子體光譜儀環境輻射儀近紅外光譜儀元素分析儀氧含量測量信號發生器近紅外谷物接收系統顆粒分析儀熒光壽命光譜儀三維表面輪廓儀

【光學精密機械】

干涉儀光學平臺光學鏡架手動平移臺手動旋轉臺手動擺動臺手動組合平臺電動平移臺電動轉動臺電動擺動平臺電動組合平臺壓電陶瓷平臺壓電陶瓷制動器高穩定防震平臺

【光源】

氙燈光源氘燈光源氘鹵雙光源 LED光源燈鹵素燈光源光催化氙燈光源積分球積分球均勻光源太陽模擬器紫外固化機寬帶超連續光源顯微鏡光源

【光學影像】

紫外CCD相機近紅外CCD相機制冷型CCD相機高速相機顯微鏡 CID相機紅外相機/熱像儀

【光學元件】

窗片/窗口反射鏡透鏡光學基片分光鏡棱鏡晶體濾光片波長板擴散板起偏器光學鏡頭光纖產品光柵尺光柵

【光通信儀器】

ASE光源光纖放大器光通信激光器光功率計可調諧激光光源光纖測量系統光衰減器光纖熔接機光通信探測器光調制器 SLED光源 SLED模塊光源高功率EDFA 光收發機拉曼EDFA組合放大器拉曼泵浦模塊偏振光合束器拉曼放大器

【生物分析儀器】

動物注射泵樣品均質器粘合劑分配器蠕動泵

AF-640A原子熒光光譜儀

主要特點：

●適世界首創“除汞技術”的環保型原子熒光光譜儀（專利）

●國內首創“低溫原子化氬氫火焰自動點燃”技術（專利）

●國內首創“全陶瓷紅外加熱恒溫控制”石英爐原子化器（專利）

●的“氣態汞測定”的專用技術裝置（專利）

●的噴流型氫化物/蒸氣發生氣液分離系統，靜力式自動排除廢液（專利）

●的“水樣中超痕量汞測定”的專用技術裝置

●可實現多種組合的兩個元素同時測定

●設計的閉光式調光系統

●具有氣路自動控制，自動保護，自動報警功能

●RS-232標準串口通訊，支持USB接口通訊

技術參數：

元素	檢出限（DL）	相對標準偏差（RSD）	線性范圍
As Sb Bi Se Te Pb Sn	<0.01 µg/ L	1%	10³
Hg	<0.001 µg/ L	1%	10³
Cd	<0.001 µg/ L	1%	10³
Zn	<2.0 µg/ L	1%	10³
Ge	<0.3 µg/ L	1%	10³
氣態汞（空氣、天然氣、實驗室工作現場等）	<1.0 ng/ m3	2%	10²
水樣中汞（飲用水、礦泉水、海水、地表水等）	<0.0002 µg/ L	2%	10²

配件：

● 選配PDI－10和引導式工作站系統升級模塊，可實現As、Hg、Se等元素形態分析[專利] ● 選配WM－10 “水樣中超痕量汞”測定專用裝置，可實現地表水、海水（Ⅰ類、Ⅱ類）、自來水及水源水等水樣中超痕量汞直接測定[專利] ● 選配VM－10“氣態汞”測定專用裝置，可實現空氣、天然氣、實驗室及工作現場等氣體中超痕量汞的直接測定[專利] ● 主機與自動進樣器靈活配接 ■ 主機可脫離自動進樣器實現半自動操作 ■ 配置自動進樣器由微機控制可實現全自動測定 ■ 采用多環形結構的園形轉盤式自動進樣器，體積小、定位 ■ 大樣品量可隨即更換預留樣品盤，由微機識別繼續全自動測定

應用領域

廣泛應用于環境監測、水質分析、食品檢驗和衛生防疫等系統

中的砷、銻、鉍、汞、硒、碲、鉛、錫、鍺、鋅和鎘等元素。

該公司產品分類：電線電纜

ElvaX ProSpector手持式XRF熒光光譜儀 ElvaX ProSpector

手持式XRF熒光光譜儀 ElvaX ProSpector的詳細描述：

ELVAX PROSPECTOR應用概覽： Elvatech是一個緊湊的桌面能量色散x射線熒光光譜儀,合金分析儀。它是正確的和可負擔得起的解決方案為珠寶行業,合金排序、表達QC在冶金(金屬分析儀)。 ElvaX勘探器是便攜式的能量散射型X射線熒光儀(EDXRF)，應用了最新的XRF系統，是Elvatech 引以為傲的產品。像所有ElvaX 產品一樣，此款便攜式手持能量散射型X射線熒光儀(EDXRF)以直觀和用戶友好為設計理念。該系統運用一塊7.2 Vdc 鋰電池，正常使用下，充一次電可以使用8小時。ElvaX 勘探器在40 kV 高壓下操作，但最高可設置到50 kV，可檢測范圍從Cl 到 U。氫元素可檢測范圍從Mg 到 U。ElvaX 勘探器在帶有4英寸高分辨率觸摸屏顯示器HP PDA控制下操作，系統具有高靈活性和可用性。使用PC或筆記本電腦控制，ElvaX ProSpector可成為實驗室級的操作儀器所有設備的現場服務由一個擁有多年能量散射型X射線熒光儀(EDXRF)經驗的工程師團隊支持。 ELVAX PROSPECTOR的分析原理：能量色散X射線熒光光譜法 ELVAX PROSPECTORS可分析的元素： ELVAX PROSPECTOR可分析的元素范圍是元素周期表中原子序數17號CL到92號U之間的元素。ELVAX PROSPECTOR工廠預制的基本參數法校準曲線可分析的元素包括Ag, As, Au, Ba, Ca, Cd, Cr, Co, Cu, Fe, Hg, K, Mn, Ni, Pb, Rb, Se, Sr, Sn, Sb, Ta, Th, Ti, Tl, V, W, Zn, Zr，完全覆蓋EPA6200方法中涉及的所有26個元素。其他不在以上工廠預制校準曲線內的元素還可以根據用戶需要進行添加。ELVAX PROSPECTORS標準測試元素：機型一： Al，Mg，Si，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Zr，Nb 機型二： [Ti－－U] Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Zr，Nb Mo，W，Ta，稀土，鉛，鉍，銀，錫，其他元素可根據需要增加。ELVAX PROSPECTOR可分析的樣品類型：固體、粉末、液體（部分樣品需要配置相應的樣品容器）ELVAX PROSPECTOR典型分析時間： 15秒～120秒，視不同樣品類型和分析精度要求而定ELVAX PROSPECTOR對各元素的測試報告：

元素	ERM®-EC680K（標樣）	ElvaX ProSpector分析儀
	標準值（ppm）	測試值（ppm）
As	4.1±0.5	3.9±0.2
Br	96±4	97.5±1.9
Cd	19.6±1.4	21.2±0.8
Cl	102.2±3	99.4±9.4
Cr	20.2±1.1	21.4±7.5
Hg	4.64±0.2	< 7.0
Pb	13.6±0.5	12.6±2.2
S	76±4
Sb	10.1±1.6	10.6±0.6

元素	ERM®-EC681K（標樣）	ElvaX ProSpector分析儀
	標準值（ppm）	測試值（ppm）
As	29.1±1.8	28.1±2.2
Br	770±40	758.9±10.9
Cd	137±4	132.2±0.8
Cl	800±50	820.6±19.4
Cr	100±5	106.5±7.5
Hg	23.7±0.8	20.0±5.6
Pb	98±6	98.7±2.2
S	630±40
Sb	99±6	96.2±0.6

*檢測下限受樣品基體、干擾元素、測量時間等因素影響而不同。 ELVAX PROSPECTOR參數和基本配置：

Оption –氫元素（SDD檢測器）	從Mg（Z = 12）到CL（Z = 16
電池	可反復充電、多次拔插、且有電量顯示功能的Li離子電池，典型工作情況下單塊電池工作時間8小時，配有110/230V,50/60HZ直流電源充電器。
尺寸	242 mm x 230 mm x 78 mm
重量（含電池）	1230 g（1440克）

技術特點

＇

以上是原裝進口ElvaX ProSpector手持式熒光光譜分析儀意大利技術的詳細介紹，包括原裝進口ElvaX ProSpector手持式熒光光譜分析儀意大利技術的價格、型號、圖片、廠家等信息!

該公司產品分類： 1

北斗芯微原子熒光光譜儀PCB抄板，原子熒光光譜儀克隆，原子熒光光譜儀抄板

技術參數：

1、檢出線（D.L.）: As、Pb、Se、Bi、Sn、Sb、Te、Hg＜ 0.01µg/LHg（冷原子法）、Cd＜0.001µg/LGe＜0.05µg/LZn＜1.0µg/L 、Au＜3.0µg/L2、精密度＜1.0％3、線性范圍: 大于三個數量級。

主要特點：

一、技術指標1、檢出限（D.L.）: As、Pb、Se、Bi、Sn、Sb、Te、Hg＜ 0.01µg/L Hg（冷原子法）、Cd＜0.001µg/L Ge＜0.05µg/L Zn＜1.0µg/L Au＜3.0µg/L2、精密度＜1.0％3、線性范圍: 大于三個數量級。

南京PCB抄板，廣州PCB抄板，杭州PCB抄板，鄭州PCB抄板，蘇州PCB抄板，濟南PCB抄板，上海PCB抄板，重慶PCB抄板廣東PCB抄板，江蘇PCB抄板，北京PCB抄板，浙江PCB抄板，河南PCB抄板，山東PCB抄板，河北PCB抄板，湖南PCB抄板，遼寧PCB抄板廣東抄板，江蘇抄板，北京抄板，浙江抄板，河南抄板，山東抄板，河北抄板，湖南抄板，遼寧抄板深圳北斗芯微科技有限公司是一家專業PCB線路板設計，芯片解密和OEM代工的的公司，主要從事:PCB Layout；PCB改板，電路板克隆（抄板）；PCB轉原理圖，BOM單制作；各類電路板制板；樣機制作、調試，PCB批量生產，防抄板技術，半成品加工，oem代工生產，芯片解密等。公司擁有一批具有多年線路板設計經驗的專業技術精英，對多層PCB板有極其詳盡透徹的了解，對含有激光孔、盲孔、埋孔的PCB板結構及走線規則的理解更是勝人一籌。無論是元件密集，遍布微帶線、等長線的電腦主板、顯卡板、千兆網絡設備基板，或是對高頻處理要求苛刻，電磁兼容性控制嚴格的小靈通主板、手機主板、無線網卡、藍牙板、路由器及其他無線通訊設備，以及疊層多達30多層PCB板，盲孔埋孔密布的工控主板，我們都能依據客戶提供的一套完好樣板一次性克隆成功。我們業務范圍涉及到電子產品十幾個領域：高清視頻技術、家用電視、通訊、監控、電子樂器、醫療器械、汽車電子、電腦及周邊產品、數模轉換、數碼產品、工業控制等。北斗芯科技是目前有專業性優勢的公司。我們期待與您真誠的合作！給我一套樣機，我能快速做出相同功能的產品!深圳北斗芯微科技有限公司采用目前國際上進的技術與設備，專業的單片機解密程序流程竭誠為國內外廣大客戶提供專業單片機解密服務聯系人：吳生 QQ:1632478768公司名稱：深圳北斗芯微科技有限公司深圳福田區八卦嶺鵬益花園4棟1604更多資料訪問：http://www.copy-pcb.com

BDX001X熒光光譜儀PCB抄板，X熒光光譜儀抄板，X熒光光譜儀克隆

技術參數：1.功率50W，最大電壓50KV，最大電流2mA2.50W端窗Pd靶X光管3.硅漂移計數器，分辨率小于170eV4.3位置次級靶自動轉換系統，即3束X激發光源。5.可選真空、充氣、常壓系統主要特點：1.偏振X光激發樣品，具有極低的背景，的靈敏度2.真正意義的Na-U的全分析，無需濾光片。3.分析的含量范圍ppm級到100%4.極為豐富的軟件系統，提供各種方法及校正模式

NDA500X熒光光譜儀

X熒光光譜儀

產品型號：NDA300

品牌：納優

應用領域

●RoHS指令篩選檢測

●無鹵指令篩選檢測

●玩具指令篩選檢測

●日用消費品中限制元素篩選檢測

●合金成分分析

●土壤、污水重金屬檢測

主要配置

●SDD硅漂移電致冷半導體探測器

●側窗鉬（Mo）靶管

● 標配16組復合濾光片

● 配置了0.5mm、1mm、3mm、4*4mm四種準直器

● 具備符合中國國家標準的樣品混測功能

● 具備開放工作曲線技術平臺

● 內致標準工作曲線

● 配置On-Line實時在線技術支持與服務平臺

● 分析軟件操作系統分級管理

產品參數

名稱：X熒光光譜儀

輸入電壓：220±5V/50Hz

消耗功率：≤500W

環境溫度:15-30℃

環境溫度：≤80%（不結露）

主機外形（mm）：長*寬*高＝900*500*440

樣品倉：長*寬*高＝430*380*120

主機重量:約60公斤

技術指標

測量元素范圍：S-U

測量時間：對聚合物材料，典型測量時間為30秒

精密度（Pb,Br,Cr,Hg）≤15ppm Cd≤7ppm

準確度（Pb,Br,Cr,Hg）≤100ppm Cd≤10ppm

對銅基材料，典型測量時間為50秒

精密度Pb≤50ppm, 準確度Pb≤150ppm

*注1：項目課題：出口機電產品國際綠色貿易壁壘應對技術及應用；子課題：支持RoHS指令的新型X熒光分析儀開發與企業應用；項目組織單位：中國機械工業聯合會；課題負責人：楊李鋒（納優科技公司總經理）。

*注2：《RoHS檢測用X熒光能譜儀（XRF）性能評價規范》為全球范圍內首部用于評價能量色散X熒光光譜儀的性能的參照范本，其中包括：安全性能、儀器硬件基本性能指標及分析方法配置、精密度指標測試、準確度指標測試、典型材料（聚合物、金屬等）中各種有害元素的檢出限、儀器對不同基體材料測量的適應性和擴展性及其它性能參數等測試項目以及儀器性能評價步驟等，對于X熒光光譜儀生產廠家和購買儀器的用戶均有實際參考指導意義。

*注3：該檢測必須“一機一檢”，其檢測內容、方法及步驟等均以《RoHS檢測用X熒光能譜儀（XRF）性能評價規范》（見注2）為準。檢測報告也稱儀器檢測鑒定證書，該證書最大的特點就是“唯一性”，一機一證，證書封頁注明儀器出廠編號、檢測報告編號的同時，需蓋有賽西實驗室矩形騎縫章印。

X熒光光譜儀

該公司產品分類：無鉛檢測儀 ROHS檢測儀合金分析鍍層測厚儀 XRF檢測儀 ROHS無鹵檢測儀+ X熒光光譜儀環保檢測儀器

S1 TURBO(SD)手持式X熒光光譜儀德國布魯克便攜式直讀光譜儀

產品簡介

詳細介紹

德國布魯克

手持式X熒光光譜儀-常見合金詳細說明：

主要應用：石油化工、軍工、航空、航天、鋼鐵、電站、電廠、鍋爐壓力容器、機械制造與加工、金屬回收與分類、貴金屬、RoHS檢測、礦石、土壤等

手持式X熒光光譜儀儀器簡介Bruker公司是手持式X熒光光譜儀的先驅，2001年在美國納斯達克證券交易所上市。2001年第一次把X射線管應用于手持式X熒光光譜儀中；2002年第一次實現手持式X熒光光譜儀測量輕元素；2008年第一次在手持X熒光光譜儀中使用硅漂移檢測器（SDD）。S1 TURBOSD使用了XFlash®SDD探測器技術，大大提高了手持式X熒光光譜儀的靈敏度和精度。確保了工業生產的安全和產品的質量。成為目前世界同類儀器中分析速度最快，分析范圍最廣的設備。可測量的基體/應用范圍：工具鋼，低合金鋼，不銹鋼，鈷合金，鎳合金，銅合金，鈦合金，鋯合金，鎢合金，鋅合金，鋯合金等手持式X熒光光譜儀主要特點品牌中的精英，精品中的極品！快速、高效、準確；檢測項目：材料分析、廢料分撿、牌號識別的最理想工具。手持式X熒光光譜儀　功能模塊定量分析牌號識別混料識別合格與否判定圖譜顯示應用領域石油化工、軍工、航空、航天、鋼鐵、電站、電廠、鍋爐壓力容器機械制造與加工、金屬回收與分類、貴金屬、RoHS檢測（玩具、塑料等）礦石、土壤、其它技術參數重量：1.5kg尺寸：30cm（L）x10cm（W）x28cm（H）激發源：X射線管，Ag靶，40kV檢測器：XFlash®硅漂移檢測器（SDD）, 檢測速度快；　　　　能量分辨率高：145eV, 計數率：100 kcps　操作系統：HP掌上電腦：Windows Mobile5.0 Bruker 專用軟件冷卻系統:Peltier半導體冷卻系統電源：交、直流供電；2塊充電鋰電池，可連續工作8-12小時工作條件：濕度范圍：-20℃～+55℃　濕度范圍：0～95%電池充電器：交流充電器：110/220V，50/60Hz計算機/顯示器：240x320彩顯; 65,536像素; 背景光可調; 觸摸屏測量模式：樣品表面溫度牌號識別、定量分析、顯示測量譜線、合格與否判定　　　　　使用熱表面適配器，最高可測500℃高溫件數據傳輸：USB，無線藍牙，SD卡數據存儲：主機：512MB存儲卡：CF/SD卡，2GB，能存儲幾十萬個牌號和測量數據安全：密碼保護，設有多級安全鎖運輸箱：減震、抗壓、防水、密封儀器箱支持語言：包括中、英文在內共12種語言（用戶自選）質保期：2年獲得認證：CE、TUV、ISO9001、IECEE

該公司產品分類：超聲波測厚儀/探傷儀機床配件金相顯微鏡量具萬用表實驗/力學儀器光譜儀ROHS分析儀三坐標測量機里氏硬度計巴氏硬度計顯微維氏硬度計洛氏硬度計光澤計精密色差計涂層測厚儀光學影像測量儀測高儀/高度計粗糙度輪廓儀輪廓測量儀圓度、圓柱度儀

荷蘭帕納科便攜式X射線熒光光譜儀

l 接近實驗室分析精度,檢出限可低至1-10ppm！！

l 檢測范圍廣,覆蓋周期表從F到U所有元素！！

l 營地現場即時快速分析,節約大量的運輸經費,大幅度提高效率!

對野外采取的大量的地質樣本（礦石或土壤）進行精確的定量分析是地質隊在野外地質勘查中的主要工作之一，然而大量待測試樣的保管和運輸已經成為勘探工作的一大負擔，尤其是在預查普查階段。Epsilon 3能夠在野外對試樣進行快速準確的定量分析，使地質工作者從繁重的工作中解放出來，讓他們專注于更加重要的工作。

Epsilon 3—足以滿足甚至超出您的需求

1. Epsilon 3無需樣品預處理（可直接分析固體，粉末及液體樣品）；另外大樣品模式下，可以直接測試巖心等未經制備的樣品；

2. 高分辨率硅漂移探測器，脈沖復位電路提供的計數率可超過200,000cps，分辨率通常超過135eV；

3. 操作簡單，分析速度快（分析一個樣品僅需3-5分鐘）；

4. 先進的無標定分析軟件Omnina，可在無標準參考樣情況下進行可靠定量分析；

5. 車載實驗室，方便實用，準確度高，滿足地質野外探礦及應急分析要求。

技術優勢：

Epsilon 3結合了最新激發和檢測技術以及智能設計，可與體積更大、功率更高的光譜儀相媲美，甚至超出。

Epsilon 3已經成為一款經濟實惠且可行的移動實驗室，從而實現試樣的野外快速分析，極大減輕工作量提高工作效率。

參數：

	Epsilon 3技術指標	Epsilon 3L技術指標
綜述
	能量色散X射線熒光光譜儀，元素測定范圍F-U，濃度范圍：ppm-100%
樣品處理
樣品類型：	粉末（松散或者壓片）、熔片、金屬、液體、薄膜、大尺寸樣品
樣品尺寸：	固體27-51.5mm直徑，高度10cm；通常樣品杯放置10ml液體或者粉末 LSM：大樣品模式樣品尺寸：4.9×20×10（H×W×D）
樣品交換器：	10位，可取出
X射線管
類型：	金屬陶瓷，側窗
陽極材料：	Rh，Ag，Mo
光管設置：	軟件控制，最大電壓30kV，最大功率9W	軟件控制，最大電壓50kV，最大功率15W
光管濾波片：	六個，軟件選擇
探測器
	高分辨硅漂移探測器（135 eV@ 5.9 keV/1,000 cps）
電學指標
電源電壓：	90-264V
功率：	250W
安裝
尺寸：	231×530×510mm	270×530×510mm
重量：	40.5kg	42.5kg
環境溫度：	5°C-35°C

X熒光光譜儀（XRF）

RoHS檢測：用戶可方便對RoHS控制的六類物質進行檢測與控制。 Pb、Cd、Hg、六價Cr（測試總Cr）PBB、PBDE （測試總Br）。無鹵檢測：優良的硬件設計和完善的軟件解譜方法，可以精準的測試氯（Cl）元素。檢出下限低至≤60ppm。

開放性工作曲線用戶可很方便的根據自身材質狀況，建立風險材料的工作曲線，全面提高工作曲線與被測材料的對應性。從而大幅度提升風險物質的檢測精度。

供應納優NDA200X熒光光譜儀ROHS檢測儀器

應用領域

►RoHS指令篩選檢測

►無鹵指令篩選檢測

►玩具指令篩選檢測

►金屬鍍層測厚

►合金成分分析

技術特點

►配置最新專利技術“樣品免拆分”檢測模式：采用最新專利技術的光路結構，最小照射光斑直徑可達到0.5mm，輔以精確的光斑定位系統，從而可以實現對復雜樣品進行免拆分直接測量的要求

►配置符合中國國家標準的樣品混測功能：方形4mmⅩ4mm光斑設計，配合0.5mm光斑配合使用，能夠對電路板等復雜樣品實現“免拆分”區域掃描測量功能；從而顯著節省測量時間，大幅度提高檢測效率

►配置ON-Line實時在線技術支持系統（選配）：實時解決用戶在使用過程中的疑難技術問題，同時對用戶操作人員進行培訓

►配置十六組復合濾光片：NDA200型配置了16組復合型濾光片，是業界配置最全、數目最多的配置之一；16組濾光片的配置，極大的保證了XRF分析儀針對各種復雜樣品檢測的適應性

►內置標準工作曲線：儀器內置了滿足EU-RoHS以及CHINA-RoHS產品認證要求的基礎材料的工作曲線，方便用戶直接使用；并與國家指定的認證檢測實驗室保持一致

►具備開放的工作曲線技術平臺：基于開放的工作曲線技術平臺，電子生產企業可以建立針對自己工廠特定物料的工作曲線，確保XRF分析儀檢測結果的可靠性和準確性

►分析軟件操作系統分級管理：儀器系統軟件配置了操作員、工程師兩級操作功能菜單，便于工廠有序管理；操作員菜單簡單直觀，避免儀器重要參數的誤修改；工程師菜單功能強大，儀器的各種參數設置權限全部開放給用戶

►采用經典的迷宮式輻射防護結構：采用了經典的迷宮式輻射防護結構，在保持儀器外形美觀操作方便的同時，徹底杜絕低能散射X射線的泄露

►可選配專利技術“影響權系數法”多層鍍層測厚功能：納優科技獨創的“影響權系數法”多層鍍層測厚技術，顯著提高鍍層厚度測量的準確度；最大可測量鍍層數量為9層；徹底解決了常規XRF測厚方法所不能解決的塑料基體鍍層厚度測量的技術難題

►外觀設計實用美觀：符合人體工程學的儀器外形設計，操作人員測量過程方便舒適

分析方法及系統軟件

分析方法配置：

►基于蒙特卡洛計算模型的基本參數法

► 經驗系數法

► 理論α系數法

軟件功能描述：

► RoHS指令、無鹵指令等環保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析

► 各種金屬材料、無機非金屬材料（不包括聚合物材料）的材質分析（S～U元素）

► 聚合物等有機材料中硫（S）～鈾（U）元素的含量分析

► 分析報告的自主定制與輸出打印

► 分析結果的保存、查詢及統計

► On-Line實時在線技術支持與技術服務功能

► 多層鍍層厚度測量功能（選配）

主要配置

►美國Si-PIN電制冷半導體探測器

►側窗鉬（Mo）靶管

►標配16組復合濾光片

►配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準直器

►具備符合中國國家標準的樣品混側功能

►內置標準工作曲線

►配置On-line實時在線技術支持與服務平臺

►具備開放工作曲線技術平臺

►分析軟件操作系統分級管理

產品參數

名稱：X熒光光譜儀

型號：NDA200

輸入電壓：220±5V/50Hz

消耗功率：≤500W

環境溫度：15-30℃

環境濕度：≤80%（不結露）

主機外形（mm）:長＊寬＊高=900*500*440

樣品倉（mm）:長＊寬＊高=430*380*120

主機重量：約60公斤

技術指標

元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素

測量時間：

對聚合物材料，典型測量時間為200秒

對銅基體材料，典型測量時間為400秒

檢出限指標（LOD）：

對聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg

對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

精密度指標，以連續測量7次的標準偏差σ表征：

對聚合物（塑膠）材料：LOD（Pb）≤15mg/Kg；LOD（Hg）≤15mg/Kg；LOD（TCr）≤15mg/Kg；LOD（TBr）≤15mg/Kg；LOD（Cd）≤7mg/Kg

對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

準確度指標，以系統偏差δ進行表征

對聚合物材料：δ（Pb）≤100mg/Kg; δ（Hg）≤100mg/Kg; δ（TBr）≤100mg/Kg; δ（TCr）≤100mg/Kg; δ（Cd）≤10mg/Kg

對銅基體材料：δ（Pb）≤150mg/Kg

該公司產品分類：通用檢測 NaU系列 NDA系列