AV-870AOI光學檢測儀
MF-760VT離線式AOI自動光學檢測儀，AOI設備，AOI檢測設備
產品特點：
1.多項專利申請，使得產品趨于完美
2.自主研發的圖像算法使得檢出率大大提高
3.高清晰CCD相機、圖像質量穩定可靠。
4.檢測速度滿足1.5條高速貼片線的需求
5.SPC可追訴系統，便于高效的管理
6.機器移動方便，可多條線共用
7.針對小批量多品種產品更具優勢
技術參數：
| 適用PCB | 適用制程 | 回流焊后 |
| 基板尺寸 | 20×20mm-320×450mm | |
| 基板厚度 | +/-3mm | |
| 基板上下凈高 | 上方：≤30mm；下方:≤60mm | |
| 檢查項目 | 回流焊后 | 缺件，多件，錫球，偏移，側立，立碑，反貼，極反，錯件，壞件，橋連，虛焊，無焊錫，少焊錫，多焊錫，元件浮起，IC引腳浮起，IC引腳彎曲 |
| 視覺系統 | 攝像系統 | 彩色數字CCD相機 |
| 照明系統 | 彩色環形三色LED光源 | |
| 分辨率 | 15um 20um（可選） | |
| 檢測方法 | 彩色運算，顏色提取，灰階運算，圖像比對等 | |
| 機械系統 | X/Y驅動系統 | 交流伺服電機+精密研磨滾珠絲桿 |
| 定位精度 | 8 um | |
| 移動速度 | 700mm/s(MAX) | |
| 軌道調整 | 手動 | |
| 軟件系統 | 操作系統 | Windows xp |
| 界面語言 | 中，英文可選界面 | |
| 檢測結果輸出 | 基板ID，基板名稱，元件名稱，缺陷名稱，缺陷圖片 | |
| 電源規格 | AC220±10％，50/60HZ,1KW | |
| 環境溫度 | -10-40℃ | |
| 環境濕度 | -10-85％RH | |
| 外形尺寸 | 900×1000×1235mm | |
WZP-84德陽 應變片 電阻應變片 光學應變片
應變片 電阻應變片 光學應變片
電阻應變片的工作原理是基于應變效應制作的，即導體或半導體材料在外界力的作用下產生機械變形時，其電阻值相應的發生變化，這種現象稱為“應變效應”。 半導體應變片是用半導體材料制成的，其工作原理是基于半導體材料的壓阻效應。壓阻效應是指當半導體材料某一軸向受外力作用時，其電阻率發生變化的現象。 應變片是由敏感柵等構成用于測量應變的元件，使用時將其牢固地粘貼在構件的測點上，構件受力后由于測點發生應變，敏感柵也隨之變形而使其電阻發生變化，再由專用儀器測得其電阻變化大小，并轉換為測點的應變值。金屬電阻應變片品種繁多，形式多樣，常見的有絲式電阻應變片和箔式電阻應變片。箔式電阻應變片是一種基于應變——電阻效應制成的，用金屬箔作為敏感柵的，能把被測試件的應變量轉換成電阻變化量的敏感元件。光學應變計一般采用不超過 4-9 微米直徑的布拉格光柵 玻璃纖維 制造。 一般來說,人的頭發直徑為60-80微米.纖維芯被直徑大約125 微米的純玻璃覆蓋層所包圍。 基于布拉格光柵的應變片有以下優勢： 1. 對電磁場不敏感 2. 可以用于可能爆炸的環境 3. 高震動負載情況下，材料（玻璃）不會產生故障 4. 可以測量更大的應變，一般電阻應變片的最大應變為數百微應變，而光學應變片的可測量的最大應變為7000微應變 5. 更少的連接線，因此會對測試物體產生更少的干擾 6. 互連需要大量的傳感器，不同的布拉格波長可以集成在一個光纖中. 應變片 電阻應變片 光學應變片
普通型熱電阻/鎧裝熱電阻 /端面熱電阻 /隔爆型熱電阻 / 金屬熱電阻/精通型熱電阻/陶瓷鉑電阻 云母鉑電阻Pt10、Pt100、Pt1000；Cu50和Cu100
深圳專業供應自動LCM/偏光片/導光板光學測量系統
| ·SJ-M500 1 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 大尺寸液晶電視光學自動測量系統 SJ-M500系列（五軸全自動） SJ-500系列是針對液晶電視/LCM/背光模組所開發的量測設備,最大檢測的范圍可達65英寸.此外,檢測項目涵蓋了所有標準規范,如VESA FPDM2.0 ,TCO ‘99/’03 ，Dell Appendix A1, ISO 13406-2等. 光學測試系統機臺簡介: 主要是應對26英寸至65英寸的臺式液晶顯示器,液晶電視模組的光學特性測量. 測量項目涵蓋所有的標準規范,如VESA FPDM2.0 ,TCO 03/06,Dell Appendix A1, ISO 13406-2 等 光學測試系統硬件運動特性: 光學測量儀器由馬達驅動,可沿X軸（左右）,Y軸（上下）,Z軸（前后）做三維直線移動. 在測量視角時,被測液晶顯示器面板可以沿θx方向旋轉±90度,沿θy方向旋轉±90度.
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 | ·SJ-XL5100Z 1”~100”超大尺寸測量系統 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 對于50英寸以上的液晶電視/液晶電視模組來說，因測量面板大重量重，通過旋轉和翻轉液晶電視面板來測量可視角度變得不太現實。所以本公司推出SJ-LX500系列的光學自動測量臺，在光學測量儀器前裝導光光纖探頭，通過光纖探頭的2維旋轉來測量大尺寸液晶電視的可視角度，使50~100英寸的大尺寸液晶電視光學全功能測量成為可能。 光學系統特征簡介: 對于65英寸以上的液晶電視/液晶顯示模組來說,因測量面板尺寸大重量重,通過旋轉和翻轉液晶面板來測量可視角變得非常困難. 本公司推出的SJ-XL系列光學特性版測量臺,在光學測量儀器前裝導光光纖探頭,通過光纖探頭的二維旋轉來測量大尺寸液晶電視的可視角度,使65~100英寸的大尺寸液晶電視光學全功能測量成為可能. 測量視角時,光纖探頭由兩個馬達控制其旋轉, 其一控制光纖探頭做360度旋轉（Φ角）,另一馬達控制光纖探頭做+- 85度的水平旋轉（θ角）. 這樣,不僅可以測量LCD的水平及垂直方向的視角,也可以做整個（Φ, θ）空間的全視角測量. 光學測試系統硬件運動: 光學測量儀器前需加裝光纖探頭 光學測量儀器由馬達驅動,可沿X軸（左右）,Y軸（上下）,Z軸（前后）做三維直線移動. 在測量視角時,光纖探頭可以沿Φ方向旋轉360度,沿θ方向旋轉±85度.
測量方式 儀器運動
±8 [資料下載] [詳細信息] |
 | ·SJ-M200W 1"～65"光學測試系統 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 光學測試系統機臺簡介: 本系列適用于17~65英寸Monitor和TV背光模組,導光板,擴散板, 增亮膜,以及CCFL和LED Lightbar Module的光學特性測量 光學測試系統硬件運動特性: 被測背光模組平躺放置于載物平臺上,在測量時背光模組靜止不動;光學測量儀器由馬達驅動,可沿X軸Y軸做二維直線移動,可以手動調節光學儀器至被測BLU表面的測量距離 載物平臺可以由馬達控制伸出/伸進, 放便放置大尺寸被測背光模組 測測項目-背光模組 5點,9點,13點,17點,25點,任意點亮度色度值,自動計算最大值（Max Value）,最小值（Min Value）,平均值（Average Value）,均勻性（Uniformity）測量背光模組的發光亮度與視角關系 量測項目-液晶顯示器 平面多點亮度色度/對比度/色三角形圖/色濃度/GAMMA/Cross-talk/Response time/Flicker
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 | ·SJ-M300Z 1"-65"光學測量系統 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| SJ-M300Z系統光學測試系統是針對液晶電視/LCM/背光模組/導光板/擴散板所開發的量測設備,最大檢測的范圍可達65英寸，LCM測量時，采用立式，這樣能達到更真實的測量效果。 測測項目-背光模組 5點,9點,13點,17點,25點,任意點亮度色度值,自動計算最大值（Max Value）,最小值（Min Value）,平均值（Average Value）,均勻性（Uniformity）測量背光模組的發光亮度與視角關系 測量測項目-液晶顯示器 平面多點亮度色度/對比度/色三角形圖/色濃度/GAMMA/Cross-talk/Response time/Flicker
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 | ·SJ-M300 1"～35"光學測試系統 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 光學測試系統機臺簡介: 本系列適用于3.2"~35"手機背光模組,筆記本,臺式液晶顯示器背光模組,導光板,擴散板的光學特性測量 光學測試系統硬件運動特性: 測背光模組平躺放置于載物平臺上,載物平臺由馬達驅動,可沿X軸Y軸做二維直線移動光學儀器可以沿θ方向左右旋轉以測量視角. 載物平臺可以沿Φ方向做0~360度旋轉（選配）. 載物平臺可以調整高度使被測面板表面與旋轉中心軸一致. 可以手動調節光學儀器至被測BLU表面的測量距離 5點,9點,13點,17點,25點,任意點亮度色度值,自動計算最大值（Max Value）,最小值（Min Value）,平均值（Average Value）,均勻性（Uniformity）測量背光模組的發光亮度與視角關系
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 | ·SJ-S200W 1"～35"光學測試系統 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 光學測試系統機臺簡介: 本系列適用于1"～35"的Monitor和TV背光模組,導光板,擴散板, 增亮膜,以及CCFL和LED Lightbar Module的光學特性測量 光學測試系統硬件運動特性: 被測背光模組平躺放置于載物平臺上,載物平臺由馬達驅動,可沿X軸Y軸做二維直線移動,光學儀器在測量時固定不動.可以手動調節光學儀器至被測BLU表面的測量距離 載物平臺可以由馬達控制伸出/伸進, 放便放置大尺寸被測背光模組 測測項目-背光模組 5點,9點,13點,17點,25點,任意點亮度色度值,自動計算最大值（Max Value）,最小值（Min Value）,平均值（Average Value）,均勻性（Uniformity）測量背光模組的發光亮度與視角關系 量測項目-液晶顯示器 平面多點亮度色度/對比度/色三角形圖/色濃度/GAMMA/Cross-talk/Response time/Flicker
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光學和像水平儀
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品名：光學和像水平儀
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性能：主要用于測量零件表面的直線度和平面度，并用于設備安裝位置的正確性及較小傾角的測量
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規格：165mm
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精度：0.01mm/m
F-GY1010光的衍射-單縫-雙縫-多縫干涉-顏色物理光學實驗
實驗內容及相關科目：
1、可觀察細絲、單縫、雙縫、多縫、小孔的衍射現象，測量其光強分布。
2、驗證波長、縫寬與光強分布的關系
3、光柵公式、海森堡測不準原理、巴比涅原理。
規格型號：TG328A光學分子天平
光學分析天平產品別名:
光學分析天平，電子天平，電子精密天平，電子天平秤，電子天平價格
光學分析天平產品說明:
TG系列分析天平（俗稱全自動電光分析天平）適用于工礦企業，科學研究機構及高等院校的實驗室、化驗室等處作化學分析和物質的精密測定。
光學分析天平主要特征:
光學分析天平技術參數:
| 型 號 | TG328A | TG328B |
| 稱量范圍 | 0-200g | |
| 分度值 | 0.1mg | |
| 光學讀數范圍 | 0-10mg | |
| 機構加碼范圍 | 0.01-199.99g | 10-990mg |
| 秤盤尺寸 | Φ75mm | |
| 外型尺寸 | 420mm×370mm×500mm | |
| 凈重 | 18kg | 15kg |
| 價 格（元） | 1900 | 1700 |
VMS3020光學測量儀二次元端子五金材料影像儀
一、產品簡介1、VMS系列是一款經濟型2D、2.5D光學影像測量儀，采用高清晰度SONI芯片CCD，底座和立柱采用精密花崗巖，保證了機構穩定性，使用我公司自主研發VMM2.2C多功能光學測量軟件，功能全面,簡單易學，能夠滿足產品點,線,圓,弧,角度尺寸的測量，克服傳統投影儀的不足，能將被測實物的影像直接輸入電腦，使其數字化，在電腦或顯示屏上更直觀，清晰的了解所測試產品。同時你可以將所測量之數據和圖紙輸如EXCEL或AUTOCAD，廣泛用于機械、電子、模具、塑膠、精密五金、線路板、手機,醫療,端子,電腦等行業.
二、參數規格光學測量儀二次元端子五金材料影像儀
| 1. | 型號 | VMS2010 | VMS3020 | VMS4030 |
| 2. | 主機體尺寸 | 700*560*850mm | 850*600*900mm | 970*670*940mm |
| 3. | 金屬臺尺寸 | 345*250mm | 450*350mm | 650*350mm |
| 4. | 玻璃臺尺寸 | 220*150mm | 340*240mm | 480*370mm |
| 5. | 實際工作行程 | 200*100*160mm | 300*200*150mm | 400*300*150mm |
| 6. | 主機體重量 | 100KG | 130KG | 250KG |
7. 機臺底坐立柱:00級花崗石
8. 線性精度:（3+L/75）µm
9. 表面照明:LED環形超亮冷光源（亮度可調）
10. 輪廓照明:LED超亮圓形燈（亮度可調）
11. 計算測量功能：REICA 2.5D精密測量系統軟件
12. 解析力：0.001mm
13. 重復精度：0.002mm
14. CCD：SONY芯片1/3彩色CCD
15. 目鏡：0．5X
16. 物鏡：0．7X～4.5X 放大倍數20X～120X
17. 電源供應器：AC90～264V 50/60Hz
18. 載重：30KG
19. 操作方式：手動（微調加快速移動）
20. 工作臺：航空鋁
三、產品功能
1、可將產品拍成產品照片并以jpeg的格式保存于電腦中形成產品圖庫
2、并將保存于電腦中的照片打開并于實時的影像同一畫面中進行對比
3、圖形可輸入到AutoCAD成為工程圖
4、AutoCAD標準工程圖可輸入實時影像中，令AutoCAD工程圖與實際工件外形重疊進行對比，從而找出工件和工程圖的區別
5、可輸入先前拍照儲存的jpeg圖片到實時影像中與實際工件進行重疊對比
6、可以在鳥瞰的全圖中進行標注尺寸
7、自定義圓：可按客戶需要自定標準的圓，再以標準的圓和影像中的工件做重疊對比，從而找到工件與標準圓形之間的誤差
8、自定義線段：可自行定義線段的起點坐標、長度、旋轉的角度，再與影像中的工件
作重疊對比，從而找到工件與標準圖形之間的誤差
9、自設客戶坐標：在實時影像中的實際工件上自行設定坐標原點（0，0），在畫面上任意點標示該點的Ｘ、Ｙ坐標位置
10、坐標標注：以自設的坐標原點(0,0)為基準，標注畫面上任意一點的坐標位置
11、專利。医枪δ埽簽槟壳笆忻嫔蠝蚀_的平面。医欠绞
12、測量：可測量平面上的任何幾何尺寸（角度、直徑、半徑、點到線的距離、兩圓的偏心、兩點間距等
13、繪圖：可將實時影像中的實際工件外形進行描繪，形成完整的工程圖，繪圖方式和AutoCAD相似
14、標注：可以在實時影像中的工件上標注尺寸。（長度、角度、直徑、半徑、點到線的距離、兩圓的偏心、兩點間距等光學測量儀二次元端子五金材料影像儀
UG系列三維光學坐標測量儀、橋式三坐標測量機
UG系列三維光學坐標測量儀、橋式三坐標測量機
| 簡單說明：UG 系列測量機設計封閉框架結構，即固定橋和工作臺移動組成，為愛德華公司獨有的技術。其的機械結構設計確保了系統整體的高精度及高穩定性，并將接觸式測頭、光學式測頭及激光掃描測頭等多種測頭模式集為一體，以確保完成幾乎所有的測量任務。 | ||||
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車間型三坐標測量機,關節臂三坐標測量機,
光學平臺和附件
儀器特點高導磁不銹鋼面板 Mб 25×25mm安裝螺孔方陣 蜂窩結構隔振層面，固有頻率底，隔振性能好 中碳鋼強板，剛性好，穩定 高耐磨支撐調節結構，輕松調節 氣墊式隔振系統，隔振效果好
儀器參數平面粗糙度不大于0.8μm 平面度不大于0.05mm/㎡隔振頻率不大于3Hz 振幅不大于 3μm 多種規格任選 1200＊800 ＊800mm
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