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leica吸引探針 BOND Aspirating Probe

1 Probe S21.0605Components

The BOND aspirating probe dispenses reagents onto the slides. Replacing

the probe at specified intervals helps ensure continued high-quality staining.

Components

The BOND aspirating probe dispenses reagents onto the slides. Replacing

the probe at specified intervals helps ensure continued high-quality staining.

該公司產(chǎn)品分類：腦地形圖儀電刺激治療儀醫(yī)用設備耗材 Novocastra 試劑生物試劑測厚儀探傷儀物理儀器光學儀器行業(yè)儀器分析儀器醫(yī)療耗材常用設備診察設備生命科學醫(yī)療器械

HZ-3020供應手動探針復合影像測量儀

手動探針復合影像測量儀

品質(zhì)特征：? 全大理石配合鋼架結(jié)構(gòu)保證擁有極高穩(wěn)定性及剛性。? 臺灣精密線性滑軌配合無牙傳動光桿，配伺服馬達全閉環(huán)控制（選配步進馬達），精度高速度快。? 配原裝進口工業(yè)級高分辨率彩色攝像機（540TVL），保證擁有高品質(zhì)的測量畫面。? 美國navitar自動變倍物境，改變倍率不需重新選取比例尺。? 可程控八區(qū)LED環(huán)形表面冷光源及輪廓冷光源，可充分滿足各種不同的照明需求。? 精密光學尺，分辨率為0.0005mm。? 功能強大的全自動CNC測量軟件，可自動編程，自動檢測。? 可選配英國Reninshaw接觸式探頭或日本CCD激光位移傳感器。

產(chǎn)品詳細介紹

HZ3D系列（全自動CNC型）[ 自動 ] 3D影像測量儀一、制造廠商：深圳合盛精科技有限公司二、品牌：HS三、生產(chǎn)基地：中國.廣東.深圳四、型號： HZ4030五、儀器硬件主要技術(shù)指標（行程尺寸：400*300mm）：

儀器參數(shù)	儀器型號	HZ4030
測量范圍（mm）	X	400
	Y	300
	Z	150
工作臺（mm）	工作臺面	550*450
	玻璃臺面	450*350
	承重	25kg
影像測量及測量系統(tǒng)	CCD	1/3寸彩色高分辨率攝像機520TV線
	變焦物鏡	0.7－4.5X
	視頻放大分倍率	30－225X
	物方視場	10.6－1.6mm
	工作距離	90mm
	顯示分辨率	0.001mm（0.0005mm）
線性精度（μm）	XY軸≦（3+L/200）um,Z軸≦（5+L/200）um
外形尺寸（mm）	750580950
儀器重量（kg）	190kg
照明	LED表面光及下光源,亮度可調(diào)
電源	220V±10%（AC） 50HZ

該公司產(chǎn)品分類：非標測量金相顯微鏡非標測量顯微鏡非標工具顯微鏡非標影像測量儀全自動影像測量儀三次元影像測量儀手動二次影像測量儀二次元影像測量儀增強型影像測量儀標準型影像測量儀手動影像測量儀

SPM-9600掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡 SPM-9600

清晰的觀察圖像 SPM-9600在基本觀察功能的基礎(chǔ)上融入了更強的測量功能，具備了的信號處理功能，再加上研發(fā)的VBDF（Variable Bandwidth Digital Filter）功能，數(shù)字處理能力比同類產(chǎn)品提高40%，可得到更高分辨率，更高質(zhì)量的觀察圖像。SPM-9600是一種的換代產(chǎn)品。
豐富的檢測模式標準配置模式包括接觸，動態(tài)和位相三種模式。擴展模式包括：力調(diào)制、側(cè)向力，磁力（MFM）、電流、表面電勢（KFM）等檢測模式，并能和納米壓痕儀與Q調(diào)制系統(tǒng)聯(lián)用，可以輕松地升級到可控氣氛模式。無論是初學者還是專家都可輕松使用。
簡便快捷的操作 SPM-9600的操作界面簡明易懂。軟件的自動化功能幫助用戶都能輕松操作。并具備防振動、噪聲的結(jié)構(gòu)，可不受外界干擾，快速地觀察各種樣品。
可擴展到控制氣氛SPM 通過追加選配件控制氣氛腔，可升級到控制氣氛型掃描探針顯微鏡WET-SPM系列。

此照片表示一種組合例 >>

主要技術(shù)規(guī)格

測定模式	標準：接觸、動態(tài)、相位
	選配模式：力調(diào)制模式、電流模式、磁力（MFM）模式、表面電位模式（KFM）、水平力模式（LFM）
分辨率	水平0.2nm　垂直0.01nm
最大掃描范圍（X/Y/Z）	30μm×30μm×5μm（標準）
	125μm×125μm×7μm（選配）
	55μm×55μm×13μm（選配）
最大樣品形狀	24mm × 8mm
樣品裝載方式	頭部滑動機構(gòu)
分束器滑動機構(gòu)	內(nèi)置在AFM頭內(nèi)

■ 設置室的環(huán)境　設置室理想的空調(diào)條件如下。　溫度　23°±5℃ 　濕度　60%以下 ■ 電源運行本裝置需要如下電源。　單相 100V-120V　50/60Hz　10A　1路接地　第3種地線 ■ 裝置的尺寸和重量 SPM單元 W180×D255×H260mm 5.5kg 控制單元 W250×D420×H454mm 18.5kg

607-CF探針式溫度計

特點: 低電顯示,℃/℉轉(zhuǎn)換

技術(shù)指標

測量范圍 -50℃~270℃；-58℉~518℉

測溫精度 0.1℃（-50℃~200℃）；1℃（200℃~270℃）

準確度 -50℃~20℃：±（讀數(shù)×1.5%+1℃）

-20℃~200℃： ±（讀數(shù)×1.0%+1℃）

200℃~270℃： ±（讀數(shù)×2.0%+4℃）

電源關(guān)閉時間 8min

深圳供應CS-4晶圓測試探針臺生產(chǎn)廠家

CS系列探針臺

產(chǎn)品簡介：CS系列探針臺造型小巧，測量精度高，操作方便，符合人機工程學。主要應用于半導體行業(yè)以及光電行業(yè)的測試。廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)。

產(chǎn)品簡介

CS系列探針臺造型小巧，測量精度高，操作方便，符合人機工程學。主要應用于半導體行業(yè)以及光電行業(yè)的測試。廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)。

CS探針臺能夠勝任的測試有：

序號	根據(jù)測試樣品分類	序號	根據(jù)應用分類
1	晶圓測試	1	射頻測試
2	LED測試	2	高溫環(huán)境測試
3	功率器件測試	3	低電流（100fA 級）測試
4	MEMS測試	4	I-v/c-v/p-iv測試
5	PCB測試	5	高壓，大電流測試
6	液晶面板測試	6	磁場環(huán)境測試
7	太陽能電池片測試	7	輻射環(huán)境測試
8	材料表面電阻率測試	9	積分球測試

應用領(lǐng)域

l 探針臺應放在穩(wěn)定可靠的臺面上，最好是具有防震裝置的工作臺上，避免在高溫，潮濕激烈震動，陽光直接照射和灰塵較多的環(huán)境下使用。

l 使用最佳溫度范圍為5℃～40℃，最佳濕度是40%到85%，空氣中之濕度若低于30%以下，可靠濕度控制器予以控制，使維持50%～60%之范圍。使用時門窗盡可能關(guān)閉，使室內(nèi)達到除濕效果。

l 使用電源：220±10%，50~60Hz

參數(shù)規(guī)格

1、主要性能參數(shù)：

規(guī)格
Chuck（可選）		4" 或6" 不銹鋼，真空吸附型，獨立開關(guān)控制
Chuck X-Y軸行程，精度		4" x4"，10um
Chuck 旋轉(zhuǎn)角度		0~360 度
Chuck 旋轉(zhuǎn)角度微調(diào)精度		0.01°
Chuck快速升降（選配）		4mm
Chuck微調(diào)升降（選配）		4mm ，1um精度
Chuck 平整度		5um
針座平臺		C型設計，可放置8個BT 型針座，可擴展為O型平臺
針座平臺平整度		5 um
顯微鏡Z軸行程，精度		2"，細調(diào)精度0.1um
需求
電力	220 VAC, 60Hz

真空	-250 mmHg, 7 liter/min

尺寸
320mm寬320mm長400mm高（帶顯微鏡）
重 20 Kg（帶顯微鏡）
可選附件
激光切割
加熱臺
防震桌
顯微鏡暗場 / DIC/Normarski 檢測
光強/波長測試接口部件
射頻測試探頭和線纜
有源探頭
低電流/電容測試
高壓測試
CCD視頻系統(tǒng)
液晶漏電分析套裝
屏蔽箱
鍍金Chuck

2、儀器各部件名稱：

（傾仰夾頭） →

（前面的夾頭按需要可上下調(diào)節(jié)）

（將此滑套往后推，用鑷子夾住探針推入夾針孔內(nèi)） → (將鎖緊螺母擰松，將夾具桿推入合適的位置)

配件

1、體式顯微鏡（可選配高倍率晶相顯微鏡）

產(chǎn)品參數(shù)和特點：

①　鑒別力高，視場范圍大，景深長。

②　工作距離長至115mm。

③　左右目鏡屈光度可調(diào)正負5度，能滿足不同視力的操作者觀察。

④　能隨意調(diào)節(jié)手輪的力矩，滿足不同操作者的使用習慣，更可以鎖定手輪，方便定倍觀察。

⑤　本顯微鏡為連續(xù)變倍，變倍比為6.3：1 ，物鏡變倍范圍0.8X-5X。

⑥　雙目觀察傾斜45度，雙瞳距調(diào)節(jié)范圍52-75mm.

產(chǎn)品優(yōu)點：產(chǎn)品造型比較新穎。機械特性優(yōu)越，操作舒適度高。光學系統(tǒng)鑒別力達300線對以上，符合國際標準。超長的工作距離位于國內(nèi)同行之首。獨有的3A設計。創(chuàng)見性人機學設計，產(chǎn)品細節(jié)考慮全面。3A特性：密封性－－－－－－-防塵,防油\防水污染此種接口密封性設計能安全防塵\防油\防水或其它污染－－－－-這就減少了常規(guī)的維護,從而降低了總的費用.防霉性－－－－－－使其同樣適用于悶熱或潮濕的環(huán)境此獨有的設計保證了顯微鏡在高溫或是潮濕下都能安然無恙防靜電－－－－－－防靜電設計可以釋放顯微鏡內(nèi)不斷產(chǎn)生的靜電,防止標本被損壞,保證提高產(chǎn)量和降低產(chǎn)品成本應用領(lǐng)域：教學示范，生物工程,IT產(chǎn)業(yè)檢測，材料分析等領(lǐng)域。

2、針座和探針夾具（可選）

針座規(guī)格	BT-200型	BT-100型	BT-40-T型	BT-40型
尺寸	90mmW x 130mmD x 90mmH	90mmW x 130mmD x 90mmH	52mmW x 96mmD x 76mmH	38mmW x 62mmD x 45mmH
重量	1000 克	600 克	300克	200 克
精度	0.35 Micron	0.7 Micron	2 Micron	10 Micron
牙具	200牙/寸	牙具 100牙/寸	40牙/寸	40牙/寸
X-Y-Z線性行程	12mmX12mmX12mm	12mmX12mmX12mm	12mmX12mmX12mm	12mmX12mmX12mm

3、JVC模擬CCD

特點

l 1/3寸CCD,44萬像素

l 535電視線的水平分辨率

l 0.7Lux的最低照度（F1.2，25%，AGC開啟）

l 50dB的高信噪比（AGC OFF）

l 內(nèi)置10bit 數(shù)字圖像處理器

Winfast XP100視頻采集卡

特性

l 可選擇的影像來源信號

可以提供不同的輸入端子，使其能夠連接不同的影像

輸出設備，如錄放影機、家庭攝影機、雷射光碟機、

影音光碟機及CCD攝影機，提供全方位的解決方案。

l 可編輯剪接影像片段

可以從輸入的影像來源做即時的動態(tài)捕捉或靜態(tài)補捉，并存成電腦可以接受并編輯的AVI電影檔或一般的圖形檔，再透過類似Asymetrix Digital Video Producer 4.0, 3D F/X等相關(guān)應用軟體，便可加入各種特效與剪接編輯

4、探針夾具

● 彈簧式

使用便利，可用于較短時間的大電流（超過1安培）穩(wěn)定性好，采用進口同軸線纜，最高精度漏電為10PA，輸出BNC（male）接頭

● 管狀式

測量微弱電流用，同時可接高壓，采用進口triax線纜，前端管裝屏蔽結(jié)構(gòu)，漏電小于100FA，高壓可耐1000V（需要配合屏蔽箱）

5、探針

美國GGB

型號	針尖直徑	針桿直徑	針長	材質(zhì)	根/盒
軟針類:適用于集成電路內(nèi)部線路點針
T-4-5	0.2 微米	0.51mm	51mm	硬鎢材質(zhì)	5
T-4-5	0.2微米直徑的針須焊接于鎳質(zhì)針桿上
T-4-10	0.7 微米	0.51mm	51mm	硬鎢材質(zhì)	5
T-4-10	0.7 微米針須焊接于鎳質(zhì)針桿上
硬針類:適用于集成電路電極點針
ST-20-0.5	1 微米	0.51mm	38mm	硬鎢材質(zhì)	10
ST-20-1.0	2 微米	0.51mm	38mm	硬鎢材質(zhì)	10
ST-20-2.0	5 微米	0.51mm	38mm/20mm	硬鎢/鈹銅材質(zhì)	10
ST-20-5.0	10 微米	0.51mm	38mm/20mm	硬鎢/鈹銅材質(zhì)	10
ST-20-10	20 微米	0.51mm	38mm/20mm	硬鎢/鈹銅材質(zhì)	10

6、真空泵

日東工器VP0125

規(guī)格：

l 電壓：AC220V

l 流量：7L/min

l 真空度：-60KPa

l 質(zhì)量：0.7Kg

功能

l 提供真空動力源。

l 配合 CHUCK上的真空吸附孔來固定樣品。

l 配合真空吸附型探針座，固定探針座。

特點

● 無油靜音，特別適合實驗室和潔凈室使用。

● 7升/分鐘，可24小時無間斷運轉(zhuǎn)。

7、防震桌

特點：隔振支撐采用超薄復合材料氣囊、自定心準無摩擦球頭擺桿和帶附加擴散口的多小孔準層流阻尼技術(shù)，隔振性能良好。自動水平，自動充氣，全部氣動執(zhí)行元件采用德國FEST0產(chǎn)品，靜音空氣壓縮機氣源、噪聲低。

應用范圍：適用于對振動要求高的場所。如光電測量、全息成像、光柵制作等。輕松調(diào)節(jié),結(jié)構(gòu)穩(wěn)定可靠。

技術(shù)參數(shù)：

臺面為三層夾心蜂窩狀支撐結(jié)構(gòu)，采用ICR17高導磁不銹鋼

平臺表面粗糙度0.5〜0.6 um

平面度0.02 ~ 0.05 mm/m2

固有頻率1.5 ~2 Hz

振幅小于1 um

重復定位精度±0.10 mm

工作壓力0.2~0.6(Mpa)

尺寸可根據(jù)客戶需求定制

8、屏蔽箱

CINDBEST CB-6

參數(shù)和特點

l 尺寸：880mm寬x710mm長x1140mm高

l 屏蔽光線和電磁干擾。

l 匹配探針臺和防震桌設計。

l 與探針夾具配合可將測試電信號的漏電精度達到100fa ，可抗2000V高壓。

l 屏蔽箱上配備轉(zhuǎn)接頭，便于在關(guān)閉屏蔽箱時線路在箱內(nèi)外的良好連接。

l 上掀式結(jié)構(gòu)，節(jié)約空間，操作便捷。

l 可根據(jù)客戶需求定制。

探針臺的使用方法

1、將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。

2、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。

3、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點移動至顯微鏡下。

4、顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測點，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測點在顯微鏡視場中心。

5、待測點位置確認好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測點,此時動作要小心且緩慢，以防動作過大誤傷芯片，當探針針尖懸空于被測點上空時，可先用Y軸旋鈕將探針退后少許，再使用Z軸旋鈕進行下針，最后則使用X軸旋鈕左右滑動，觀察是否有少許劃痕，證明是否已經(jīng)接觸。

6、確保針尖和被測點接觸良好后，則可以通過連接的測試設備開始測試。

注意事項

當您使用本儀器時，可能會碰到一些問題，下表列舉了常見的故障及解決方法。

癥狀	可能原因	解決方法
移動樣品后畫面變模糊	顯微鏡不垂直	調(diào)垂直顯微鏡
	樣品臺不水平	調(diào)水平樣品臺
	樣品不平
顯微鏡視場亮度不足，邊緣切割或看不到像	轉(zhuǎn)換器不在定位位置上	把轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)到定位位置上
	管鏡轉(zhuǎn)盤不在定位位置上	把管鏡轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)到定位位置上
	照明的亮度不足	調(diào)節(jié)光源亮度或者把孔徑光欄孔調(diào)大
	沒有裝目鏡	裝上目鏡
	沒有裝物鏡	裝上物鏡
顯微鏡像質(zhì)變差	目鏡臟物鏡臟管鏡臟	對目鏡，物鏡，管鏡臟的地方進行清潔
	孔徑光欄關(guān)的太大或者太小	調(diào)節(jié)孔徑光欄
	沒有調(diào)好焦	調(diào)節(jié)調(diào)焦手輪
	樣本上蓋有蓋玻片等介質(zhì)	移開蓋玻片等介質(zhì)
圖像一邊清晰，一邊模糊	樣本傾斜放置	放平樣本，或者調(diào)節(jié)樣品臺水平
圖像一邊清晰，一邊模糊	物鏡沒有旋緊	旋緊物鏡
眼睛容易疲勞	雙目頭的瞳距和操作者不匹配	調(diào)節(jié)雙目頭的瞳距
	目鏡視度調(diào)節(jié)不正確	調(diào)節(jié)目鏡視度
	照明亮度不合適	調(diào)節(jié)光源亮度或者孔徑光欄孔

維護和保養(yǎng)

1、避免碰撞

l 在安裝，操作CS探針臺時應避免碰撞，機體放置需平坦，不可傾斜或橫倒，避免機器發(fā)生故障或異常異音。

2、儀器的運輸

l 儀器運輸時，請先拔掉電源線插頭。

l 儀器運輸應使用專門的包裝箱，避免碰到探針臺的任何運動部件。

3、儀器的存放

l 使用完后需要注意保持清潔，盡量把灰塵吹干盡，以免灰塵將機械精密部件，光學部件，電學接觸面污染，導致儀器精度降低。

l 探針臺機體清潔時，避免直接潑水清理，以無塵布輕輕擦拭并吹干即可。不可用硬物接觸機器，以免發(fā)生故障或危險。

l 探針臺光學部件清潔時，可用鏡頭紙蘸無水酒精從中間向外輕輕的擦拭。無水酒精時易燃物，注意使用安全。

l 停電或長期不用、外出旅行時，請將電源線插頭拔掉以維護機器壽命.

l 操作人員必須嚴格按要求操作，以保證數(shù)據(jù)的準確和儀器的正常使用。

九、售后服務流程

應用案例

同類案例：清華大學材料系，廈門大學，華僑大學，南京郵電大學，成都電子科技大學，中科院半導體所，中科院蘇州納米研究院，世紀晶圓，方正微電子等數(shù)十客戶。

下面是清華深圳研究生院CS-4探針臺裝機圖：

公司介紹

深圳市森東寶科技有限公司(Cindbest)是香港森東寶國際有限公司在大陸的全資子公司，自主研發(fā)CINDBEST品牌探針臺、激光修復儀、集代理半導體測試儀表的綜合型廠家。

激光修復儀類型：32寸半自動、32寸手動、70寸半自動、70寸手動激光修復儀。

CINDBEST探針臺類型：普通晶圓測試探針臺、太陽能電池測試探針臺、積分球探針臺、IGBT高壓大電流探針臺、磁場探針臺、高低溫探針臺、氣敏分析探針臺、低溫真空探針臺、手套箱內(nèi)探針臺。

探針臺配件：金相顯微鏡、三豐顯微鏡、體式顯微鏡、樣品加熱變溫臺、防震桌、屏蔽箱、三軸調(diào)節(jié)探針座、RF四維探針座、高頻探針夾具、管狀同軸夾具、管狀三軸夾具、彈簧同軸夾具、彈簧三軸夾具、鎢探針（硬探針、軟探針）、GGB高頻探針等各類探針臺配件。

該公司產(chǎn)品分類：氣體放電與等離子體診斷儀校準片 Model 7 and Model 7A Model 12C 顯微鏡轉(zhuǎn)接頭屏蔽箱探針夾具探針座光學平臺 Model 1100B Model 500B Model 325B Model 170 Model 220 Model 140 Model 120 Model 90 Model 75 Model 50

探針臺(Analytical Probe Station)

儀器特點

1、同軸驅(qū)動臺面

2、RF射頻探針升級

3、20 – 4000倍的放大

4、后座自由的運動

5、載物臺快速升降

6、晶圓取放簡單

7、壓盤上下精細調(diào)節(jié)

8、探針卡尖超速傳動調(diào)節(jié)

儀器規(guī)格

真空載物臺： 4/6/8/12英寸不銹鋼

載物臺Theta: 0 – 30度轉(zhuǎn)動

壓盤上下粗調(diào)：6毫米范圍內(nèi)控制桿調(diào)整

壓盤上下微調(diào)：25毫米手動輪子調(diào)整

壓盤：12微控定位器

顯微鏡臺：1英寸x1英寸移動

真空泵：7升/分鐘，-250mmHg

尺寸：780毫米長x660毫米寬x700毫米高

重量：80Kg

附件

低電流、低電容探針

RF探針、電纜

主動探針

超聲切割

PCB夾具、鍍金載物臺

熱臺、冷卻系統(tǒng)

防震臺、屏蔽罩、黑箱

…

WET-SPM系列可控氣氛掃描探針顯微鏡

→手套孔 2個（兩軸）→泵旋轉(zhuǎn)泵渦輪分子泵（選配）→減振機構(gòu) 內(nèi)裝空氣彈簧式減振臺

TRS-2土壤水分測量儀測定結(jié)果受到探針范圍影響

土壤水分測量儀測定結(jié)果受到探針范圍影響土壤水分是陸地－－大氣相互作用的關(guān)鍵變量，它影響著地表的能量分配、徑流、輻射平衡等，在氣象、水文、農(nóng)業(yè)等諸多領(lǐng)域都扮演著重要的角色。隨著陸面過程和水文模型的不斷發(fā)展，已經(jīng)可以模擬土壤水分的連續(xù)變化。但是，模型模擬的精度很大程度上受限于模型參數(shù)的準確性。而土壤水分的測定可以直接使用土壤水分測量儀進行快速準確的測定分析，該款儀器廣泛的運用于農(nóng)林業(yè)土壤水分的監(jiān)控。土壤水分儀主要技術(shù)指標：? 測量參數(shù)：土壤容積含水量單位：%（m3/m3）量程：0～100%（m3/m3）精度：0～50%（m3/m3）范圍內(nèi)為±2%（m3/m3）測量區(qū)域：90%的影響在圍繞中央探針的直徑3cm、長6cm的圓柱體內(nèi)穩(wěn)定時間：通電后約1秒響應時間：響應在1秒內(nèi)進入穩(wěn)態(tài)過程工作電壓：12V—24V DC工作電流：50～70mA，典型值50 mA輸出信號：4～20mA標準電流環(huán)密封材料：ABS工程塑料探針材料：不銹鋼電纜長度：標準長度5m 遙測距離：小于1000米數(shù)據(jù)保存：20000組以上土壤水分測量儀：：http://www.trsfyq.com/白度儀：http://www.zzgsbz.net/

K-50L-QGK-50L-QG五爪測試探針

K-50L-QG高頻測試探針進口探針價格優(yōu)惠

上海市中冀聯(lián)合有限公司供應GPS信號轉(zhuǎn)發(fā)器,GPS放大器,GPS授時天線,手機屏蔽箱,三角錐屏蔽箱，網(wǎng)卡屏蔽箱，5.8G屏蔽箱，GPS車載天線,固定衰減器,可調(diào)衰減器,程控衰減器,步進衰減器,3GHZ大功率負載,SMA隔直器,高壓隔直器,大功率衰減器,村田高頻探針,村田射頻線,網(wǎng)絡分析儀校正件,廣瀨高頻探針,功分器,CMMB信號轉(zhuǎn)發(fā)器,射頻同軸電纜組件，WLAN二合路器，GPIB卡，GPIB線，K-50L-QG等各種高頻測試探針

該公司產(chǎn)品分類：測試配件及設備 GPS信號模擬器 GPS信號轉(zhuǎn)發(fā)器合路器負載隔直器功分器衰減器屏蔽箱

美國ED&D TPK試驗探針

美國.ED&D產(chǎn)品服務于:IBM ，美國航空暨太空總署，英代爾，蘋果， NCR ，索尼公司，太陽，飛利浦公司，思科， AT&T ， Compaq ， JVC ， Hewlett-Packard ，摩托羅拉， Mattel ，戴爾,3 Com 等公司;專為UL ， CSA ， ETL ， TUV,Demko等試驗室提供檢測產(chǎn)品.

TPK Probe KitS

Several different accessibility probe kits are available for specific standards. Kits can be created for other standards on request. Probe Kits offer substantial cost savings, not to mention added convenience ａnd portability!

Model	IEC / EN	UL	CSA
TPK-01	60950	60950	950
TPK-02	60601	2601	601
TPK-03	61010
TPK-04	60335
TPK-05	60529
TPK-06	60065	6500

該公司產(chǎn)品分類：家用電器檢測家用電器檢測美蓓亞試驗機美蓓亞試壓機電源指示器電源指示器燃燒阻燃試驗設備 IPX1-9防水試驗儀防塵試驗箱環(huán)境試驗箱斯洛文尼亞testing測試儀德國DOSER 美國ZERMATT 日本志賀奧德賽創(chuàng) 美國Sutter 美國日本 Artray 英國 Andor科學成像與探測美國SRS 美國斯坦福放大器