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WGL光電輪廓儀

WGL光電輪廓儀價格：98000元。

WGL光電輪廓儀介紹

1 WGL光電輪廓儀獲2007年BCEIA金獎，2007年度優秀產品獎，2006-2007年度科學儀器優秀新產品獎。專利號：ZL200610148202.6。

2 WGL光電輪廓儀采用非接觸、光學相移干涉測量方法，測量時不損傷工件表面，能快速測得各種工件表面微觀形貌的立體圖形，并分析計算出測量結果。

3 WGL光電輪廓儀適用于測量各種量塊、光學零件表面的粗糙度，標尺、度盤的刻線深度，光柵的槽形結構鍍層厚度和鍍層邊界處的結構形貌，磁（光）盤、磁頭表面結構測量，硅片表面粗糙度及其上圖形結構測量等等。

4 WGL光電輪廓儀測量精度高，重復性好，具有非接觸和三維測量等特點，并采用計算機控制和快速分析、計算測量結果。

5 WGL光電輪廓儀適用于各級測試、計量研究單位，工礦企業計量室，精密加工車間和高等院校及科學研究單位等。

WGL光電輪廓儀主要特點

6 儀器由倒置式改為正置式，更符合人們的操作習慣；

7 應用CMOS代替CCD，省去圖象卡并提高了質量；

8 用低壓電源代替高壓電源，節省了儀器成本；

9 用國產的代替德國進口壓電陶瓷，解決了關鍵部件的進口難題；

10 增加了自動步距和亮度校正程序，同時增加了局部放大三維立體圖功能。

WGL光電輪廓儀技術參數

· 表面微觀不平深度測量范圍：在連續表面上,相鄰二象素之間沒有大于1/4波長的高度突變時：1000nm～1nm；相鄰二象素之間含有大于1/4波長的高度突變時：130nm～1nm；

· 測量的重復性：δRa≤0.5nm；

· 物鏡倍率：40×；數值孔徑：0.65；工作距離：0.5mm；

· 儀器視場：目視Φ0.25mm，攝象0.13×0.13mm；

· 儀器放大倍數：目視500×，攝象（計算機屏幕觀察）～2500×；

· 接收器測量列陣：1000×1000，象素尺寸：5.2×5.2μm；

· 測量時間/采樣（掃描）時間：1s；

· 儀器標準鏡：反射率（高）～50%，反射率（低）～4%；

· 照明光源：白熾燈6V 5W；

· 綠色干涉濾光片波長：λ=530nm，半寬度λ=10nm；

· 主顯微鏡升程：110mm；

· 工作臺升程：5mm；

· X、Y方向移動范圍：～10mm；

· 工作臺旋轉運動范圍：360°；

· 工作臺傾斜范圍：±6°；

· 操作系統：WGL專用軟件，Windows XP或2000系統；

· 電源：220V±22V，50Hz±1Hz；

· 外形尺寸：主機300mm×300mm×500mm，電源180mm×280mm×200mm；

· 儀器凈重：28kg。

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光電輪廓儀價格

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光電輪廓儀價格參數：

儀器由倒置式改為正置式，更符合人們的操作習慣；應用CMOS代替CCD，省去圖象卡并提高了質量；用低壓電源代替高壓電源，節省了儀器成本；用國產的代替德國進口壓電陶瓷，解決了關鍵部件的進口難題；增加了自動步距和亮度校正程序，同時增加了局部放大三維立體圖功能；表面微觀不平深度測量范圍：130?1nm測量的重復性：sRa≤0.5nm測量精度：8nm物鏡倍率：40X數值孔徑：0.65儀器視場目視：f0.25mm攝象：0.13X0.13mm儀器放大倍數目視：500X攝象（計算機屏幕觀察）：2500X接收器測量列陣：1000X1000象素尺寸：5.2X5.2nm

光電輪廓儀價格產品說明：

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光電輪廓儀（2007BCEIA金獎產品）

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光電輪廓儀參數：

表面微觀不平深度測量范圍：130?1nm 測量的重復性：sRa≤0.5nm 測量精度：8nm 物鏡倍率：40X 數值孔徑：0.65 儀器視場目視：f0.25mm 攝象：0.13X0.13mm儀器放大倍數目視：500X 攝象（計算機屏幕觀察）：2500X 接收器測量列陣：1000X1000 象素尺寸：5.2X5.2m

光電輪廓儀產品說明：

應用范圍光電輪廓儀的應用范圍很廣，它主要用于測量各種精密加工零件表面的微觀三維結構，如表面粗糙度；零件表面的刻線；刻槽的深度和鍍層的厚度等。具體地說，如量塊、光學零件表面的粗糙度；標尺、度盤的刻線深度；光柵的槽形結構；鍍層厚度和鍍層邊界處的結構形貌；磁（光）盤、磁頭表面結構測量；硅片表面粗糙度及其上圖形結構測量等等。由于儀器測量精度高，重復性好，具有非接觸和三維測量等特點，并采用計算機控制和快速分析、計算測量結果，本儀器適用于各級測試、計量研究單位，工礦企業計量室，精密加工車間和高等院校及科學研究單位等。產品簡介儀器由倒置式改為正置式，更符合人們的操作習慣；應用CMOS代替CCD，省去圖象卡并提高了質量；用低壓電源代替高壓電源，節省了儀器成本；用國產的代替德國進口壓電陶瓷，解決了關鍵部件的進口難題；增加了自動步距和亮度校正程序，同時增加了局部放大三維立體圖功能；

JC514-WGL光電輪廓儀

光電輪廓儀的應用范圍很廣，它主要用于測量各種精密加工零件表面的微觀三維結構，如表面粗糙度；零件表面的刻線；刻槽的深度和鍍層的厚度等。具體地說，如量塊、光學零件表面的粗糙度；標尺、度盤的刻線深度；光柵的槽形結構；鍍層厚度和鍍層邊界處的結構形貌；磁（光）盤、磁頭表面結構測量；硅片表面粗糙度及其上圖形結構測量等等。由于儀器測量精度高，重復性好，具有非接觸和三維測量等特點，并采用計算機控制和快速分析、計算測量結果，本儀器適用于各級測試、計量研究單位，工礦企業計量室，精密加工車間和高等院校及科學研究單位等。產品簡介儀器由倒置式改為正置式，更符合人們的操作習慣；應用CMOS代替CCD，省去圖象卡并提高了質量；用低壓電源代替高壓電源，節省了儀器成本；用國產的代替德國進口壓電陶瓷，解決了關鍵部件的進口難題；增加了自動步距和亮度校正程序，同時增加了局部放大三維立體圖功能；表面微觀不平深度測量范圍：130?1nm 測量的重復性：sRa≤0.5nm 測量精度：8nm 物鏡倍率：40X 數值孔徑：0.65 儀器視場目視：f0.25mm 攝象：0.13X0.13mm 儀器放大倍數目視：500X 攝象（計算機屏幕觀察）：2500X 接收器測量列陣：1000X1000 象素尺寸：5.2X5.2?m

該公司產品分類：顯微鏡系列復合氣體檢測儀可燃氣體檢測儀/探測儀甲烷檢測儀有毒氣體檢測儀酒精測試儀垃圾場氣體檢測空氣質量檢測儀熏蒸氣體檢測儀氣體檢測報警儀氫氣氣體檢測報氧氣檢測儀測氡儀干燥箱系列培養箱系列振蕩器系列攪拌器系列水浴鍋系列離心機系列粉碎機系列