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鍍層測厚儀

性能特點

1、上照式 2、測試組件可升降 3、高精度移動平臺4、小準直器 5、高分辨率探頭6、可視化操作 7、自動定位高度8、自動尋找光斑 9、鼠標定位測試點10、良好的射線屏蔽11、超大樣品腔設計12、測試口安全防護

技術指標

型號：Thick 800A元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）。一次可同時分析最多24個元素或五層以上鍍層。元素分析檢出限可達2ppm，分析含量一般為2ppm到99.9％。鍍層厚度最薄可達0.005um，一般在20um內（不同材料有所不同）。小孔準直器（最小直徑0.1mm），測試光斑在0.2mm以內。高精度移動平臺（定位精度小于0.005mm）。任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。多次測量重復性可達0.05um（對少于1um的最外層Au）。工作穩定性為0.1um（對少于1um的最外層Au）。溫度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。儀器尺寸：576 x 495x545 mm重量：90 kg

標準配置

開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探測器。信號檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機

應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。

該公司產品分類：監護儀 FAS 金屬元素分析儀 AAS 碳硫分析儀光電直讀光譜儀 OES 原子熒光光譜儀 AFS 氣相色譜儀 GC 液相色譜儀 LC 原子吸收分光光度計等離子發射光譜儀 ICP 質譜聯用儀 MS X射線光譜儀 XRF

TC210TC210涂鍍層測厚儀

一．產品概述：

TC210涂鍍層測厚儀測量范圍：0~1200um，是高新技術的結晶,它采用單片機技術，精度高、數字顯示、示值穩定、功耗低、操作簡單方便、無校正旋鈕、單探頭全量程測量、體積小、重量輕；且具有存儲、讀出、統計、低電壓指示、零點校準、兩點校準及系統校準，其性能達到當代國際同類儀器的水平。

二．功能特點：

TC210涂層測厚儀采用磁性測厚法，可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、橡膠、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業。

TC210涂層測厚儀采用電磁感應法測量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂鍍層厚度。

三．技術參數：

1、測量范圍：　　0~1200um

2、測量誤差：　　<3%±1um

3、最小示值：　　1um

4、顯示方式： 4位液晶數字顯示

5、主要功能：

（1）.測量：　單探頭全量程測厚

（2）.存儲、刪除：可存入測量數據254個，對測量中的單個可疑數據進行刪除，也可以刪除存儲區內的所有數據。

（3）.讀：　讀出已存入的測量數據

（4）.統計：設有三個統計量，平均值最大值最小值

（5）.校準：可進行零點校準、兩點校準及系統校準

（6）.電量：具有欠壓顯示功能

（7）.蜂鳴提示：操作過程中有蜂鳴提示

（8）.打印：可打印測量值，選配微型打印機

（9）.關機：具有自動關機和手動關機兩種方法

6、電源：　　　兩節1.5v電池

7、功耗：　　　最大功耗100mw

8、外形盡寸：　50mm*121mm*24mm

9、重量：　　　　　 90g

10、使用環境溫度：　0℃~+40℃ 相對濕度：不大于90%

11、基體最小厚度： 0.2mm

12、基體最小平面： 7mm

13、最小曲率半徑：凸:1.5mm 凹:6mm

14、欠電壓指示：左下角顯示＂欠＂

*臨界厚度小：工件鐵基厚度大于1mm時,其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度影響。

四．基本配置：

1、TC210涂層測厚儀

2、七號電池

3、探頭

4、標準樣片

5、鋼銼

6、儀器箱

7、說明書、合格證

五可選配件：

1、打印機及通訊打印連線

2、微機通訊軟件

3、內防腐探頭

該公司產品分類：光化學反應釜/光解儀單色儀高強氙燈光源 IPCE IPCE 光源電化學工作站微弱信號處理光纖等光學配件帶通濾光片紫外分光光度計汞氙燈

涂鍍層測厚儀

產品名稱：涂鍍層測厚儀

品牌：德國QuaNix （尼克斯）

功能： Δ 磁性（Fe）探針測量鋼、鐵等基體上的非磁性涂鍍層的厚度;

如油漆層、塑料、橡膠、合成材料、瓷、磷化層、鉻、鋅、鋁、

錫等;

Δ 非鐵磁性（NFe）探針測量銅、鋁、不銹鋼等基體上非導電層的

厚度，如油漆層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、氧化層等。

探頭使用：探針可選擇:a.一體探針；b.連線探針；c.無線探針（≤10米）

顯示方式： LCD數字顯示

測量范圍： 0-2000μm 0－5000μm （選擇不同的探頭）

特點：零點不漂移，具有穩定的測量基準點；

機內自動校準，無需使用標準片,避免標準片造成的誤差；

溫度自動補償，不同溫度下測量值的一致性；

直流采樣技術，提高測量的重復性；

自動開、關機；無任何按鍵；具有超限報警功能；

可以選配各種探頭；

QuaNix 8500獲得多項國際專利和質量認證。

測量精度： 0－2000μm:≤±2％ 2000－5000μm:≤±3％

顯示精度： 0-999μm: 0.1μm 1000μm以上: 0.01μm

最小基體： Fe: 20mm×20mm NFe: 20mm×20mm

最薄基體： Fe: 0.2mm NFe: 0.05mm

最小曲率：凸半徑:5mm 凹半徑:30mm

存儲功能： 100個讀數，1個數據組統計:平均值，最大值，最小值，

標準偏差

儲存溫度：－10℃ －60℃

菜單語言：可預置3種語言

單位顯示： μm/mil（公/英制）

溫度補償： 0℃ －60℃

電源： 2節1.5V干電池

機器尺寸： 124mm×67mm×33mm

重量： 120g

售后服務：一年保修

網址：www.hf9958.com

郵箱：hhf995858@163.com

該公司產品分類：設備類消毒類儀器類

DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀

DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀價格北京美特邇環保儀器批發零售

DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀價格北京美特邇環保儀器批發零售DT-156涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應和渦流兩種原理下。在自動模式（AUTO）下，兩種原理可視測量的基體自動轉換，或可通過菜單進行自動模式和非自動模式轉換。

特性

1、可測量涂鍍層： ①磁性物質表面的非磁性涂鍍層厚度 ②非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度

2、豐富的操作菜單

3、連續和單次測量方式

4、直接工作模式和組工作模式

5、可統計并顯示：平均值、大小值、標準方差、統計數

6、可進行一點或兩點校準

7、可保存400個測量數據

8、USB連接并將數據傳輸至電腦

9、實時刪除測量數據和組數據

10、紅寶石探頭

11、低電和錯誤提示

12、可設置的自動關機功能

尺寸：113.5*54*27mm 重量：110g

配件使用說明書×1 保修卡×1 AAA 7號電池×2 鐵磁基底×1 鋁塊基底×1 校準薄片×3 USB連接線×1 軟件CD×1 便攜工具盒×1

DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀價格北京美特邇環保儀器批發零售

該公司產品分類：水準儀張力儀測堵儀漏電開關測試儀金屬探測器 SF6檢測儀磁場測試儀電能質量分析儀功率計電阻計臺式萬用表阻抗分析儀 LCR測試儀數據采集儀鹵素檢漏儀電流傳感器數字壓力表 PH計溶氧儀 TDS水質分析儀

MiniTest1100涂鍍層測厚儀

德國EPK（Elektrophysik）公司

涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；所有型號均可配所有探頭；可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；可使用一片或二片標準箔校準。

技術特征

型號	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存儲的數據量
應用行數（根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數）	1	1	10	99
每個應用行下的組（BATCH）數（對組內數據自動統計計算，并可設寬容度極限值）		1	10	99
可用各自的日期和時間標識特性的組數		1	500	500
數據總量	1	10000	10000	10000
MINITEST統計計算功能
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar		√	√	√
讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk			√	√
組統計值六種x,s,n,max,min,kvar			√	√
組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk			√	√
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據				√
分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值			√	√
顯示并打印測量值、打印的日期和時間		√	√	√
其他功能
設置極限值			√	√
連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值			√	√
連續測量模式中測量穩定后顯示讀數			√	√
連續測量模式中顯示最小值			√	√

可選探頭參數（探頭圖示）所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能

探頭		量程	低端分辨率	誤差	最小曲率半徑（凸/凹）	最小測量區域直徑	最小基體厚度	探頭尺寸
磁感應法	F05	0-500μm	0.1μm	±（1%±0.7μm）	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
	F1.6	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F2/90	0-2000μm	0.2μm	±（1%±1μm）	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F3	0-3000μm	0.2μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F10	0-10mm	5μm	±（1%±10μm）	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
	F20	0-20mm	10μm	±（1%±10μm）	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
	F50	0-50mm	10μm	±（3%±50μm）	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
兩用	FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50μm	φ15x62mm
	FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	平面	30mm	F0.5mm/N50μm	φ21x89mm
	FN2	0-2000μm	0.2μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50μm	φ15x62mm
電渦流法	N02	0-200μm	0.1μm	±（1%±0.5μm）	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
	N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±（1%±1μm）	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
	N1.6	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
	N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N2	0-2000μm	0.2μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	5mm	50μm	φ15x62mm
	N2/90	0-2000μm	0.2μm	±（1%±1μm）	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N10	0-10mm	10μm	±（1%±25μm）	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
	N20	0-20mm	10μm	±（1%±50μm）	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
	N100	0-100mm	100μm	±（1%±0.3mm）	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
	CN02	10-200μm	0.2μm	±（1%±1μm）	平面	7mm	無限制	φ17x80mm

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。 N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

該公司產品分類：其他光電子科技產品金屬探測器勞保產品工具地質儀器其它物位計液位計流量儀表轉速表內窺鏡檢測儀/校準儀汽車檢測及外圍產品多功能測試儀驗電器天平鉗形表示波器電纜故障測試儀

GALVANOTEST電解破壞式庫侖鍍層測厚儀

GALVANOTEST庫侖鍍層測厚儀的介紹：

1. 可測實際應用的所有鍍層

2. 利用庫侖電量分析原理，測量鍍層、多層鍍層

3. 符合國際標準：DIN EN ISO 2177

GALVANOTEST 可以測量

70種以上鍍層/基體組合

預置9種金屬的測量參數：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。

從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。

該公司產品分類：液相色譜儀氣相色譜儀色譜儀防腐蝕隔膜真空泵過濾支架過濾器真空泵測厚儀意大利倍爾電子天平質譜儀色譜儀紅外光譜儀紫外可見分光光度計 ICP光譜儀原子吸收光譜儀美國perkinelmer X射線熒光光譜儀火花直讀光譜儀光譜儀

X-strata960涂鍍層測厚儀

X-strata960X射線熒光鍍層厚度測量儀

基于25年涂鍍層測量經驗，在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上，引進的設計：

&#8226；新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的的X射線管。提高30%測量精度，同時減少50%測量時間

&#8226；更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器，可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置，同時提供更高精度的Y軸控制。

&#8226；距離獨立測量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內12.5-90mm（0.5-3.5inch）對樣品表面進行測量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）。可通過手動調整也可以通過自動鐳射聚焦來實現對樣品的精確對準。

&#8226；自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統測量再現性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。

&#8226；的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設計可容納超大尺寸的樣品。可從各個方向簡便的裝載和觀察樣品。

&#8226；3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺；標準配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。

&#8226；內置PC用戶界面　

X-Strata 960測厚儀

主要應用領域：

用于高精度要求的別測厚儀

電路板/半導體/連接器端子/五金貴金屬電鍍

（如1.0uinch Au，Ag…）

主要特點:

X-Strata 960 X熒光射線測厚儀，可快速測定各種材料構成

的多層鍍層厚度和元素組成。長壽命100瓦微焦點X射線管

（其它測厚儀為50瓦）。提高30%分析精度和減少50%的分

析時間三種樣品臺可供選擇:程控XYZ軸:300 x 200 x 230mm；

手動XY軸：250 x 250mm＋230mm程控Z軸；固定位置樣品臺，

最大高度230 mm更小準直器,測量更小區域:最小直徑15um

圓形準直器，20x/80xCCD圖像放大倍數自由距離測量DIM：

更靈活地測量不規則樣品（凹凸）,在12.5~102mm自由聚

焦范圍內可聚焦樣品表面任意測量點。并有自動雷射

聚焦功能一體機工作站式設計，簡化設備安裝，減少占用

空間。

儀器介紹:

960系列 X射線熒光測厚儀樣品臺采用箱體式設計‘能

測量多種幾何形體、各種尺寸的樣品’，測定方法滿足

ISO3497、 ASTM B568和DIN 50987

技術參數:

元素范圍: Ti22 – U92 同時分析層數和元素定量:5層

(4層+基體)；最多同時15種元素定量

X射線激發:100瓦(50kV-2.0mA)微焦點鎢靶X射線管

（可選鉬靶X射線管）

X射線檢測: Xe封氣正比計數器，可最多裝備3種二次

濾光片

準直器: 最多4種，多種規格備選樣品形態: 電鍍、

涂鍍、薄膜、合金、液體、等等

數字脈沖處理器:4096通道數字多道分析器,包含自動

波譜校正和Pulse Pile Rejection功能

CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch

電源: 85-130V或者215-265V、頻率47-63Hz

工作環境: 10－40℃、相對濕度小于98%，無冷凝水

樣品臺移動量: 程控XYZ軸：300 x 200 x 230mm；手

動XY軸：250 x 250mm＋230mm程控Z軸

儀器尺寸:H744 x W686 x D813

重量: 160公斤

TT210TT210鍍層測厚儀

涂層測厚儀功能特點

采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量
1. 磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金等）上非磁性覆層厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）
2. 非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆層厚度（如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等）
具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
設有五個統計量：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
可采用兩種方法對儀器進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正
具有存貯功能：可存貯500 個測量值
具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據
可設置限界：對限界外的測量值能自動報警；并可用直方圖對一批測量值進行分析
具有打印功能：可打印測量值、統計值、限界、直方圖
具有與PC 機通訊的功能：可將測量值、統計值傳輸至PC 機，以便對數據進行進一步處理
具有電源欠壓指示功能
操作過程有蜂鳴聲提示
具有錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示
設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式

涂層測厚儀技術參數

測頭類型：F | N
測量原理：磁感應 | 電渦流
測量范圍：0-1250um | 0-1250um 0-40um（銅上鍍鉻）
低限分辨力：0.1um
探頭連接方式：一體化
示值誤差：F | N
1. 一點校準（um）：±[3%H+1]
2. 兩點校準（um）：±[（1%~3%）H+1]
1. 一點校準（um）：±[3%H+1.5]
2. 兩點校準（um）：±[（1%~3%）H+1.5]
測量條件：F | N
1. 最小曲率半徑（mm）：凸1.5 | 凹9
2. 基體最小面積的直徑（mm）：ф7
3. 最小臨界厚度（mm）：0.5
1. 最小曲率半徑（mm）：凸3 | 凹10
2. 基體最小面積的直徑（mm）：ф5
3. 最小臨界厚度（mm）：0.3
溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
統計功能：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
上下限設置：有
存儲能力：500個測量值
打印/連接計算機：可選配打印機/不能連接電腦
關機方式：手動和自動
電源：二節AAA型（7號）1.5V電池
外形尺寸：110×50×23mm
重量：100g

涂層測厚儀基本配置

主機
鐵基體和鋁基體
標準片一套|五片
二節AA型（5號）1.5V電池
儀器保護套
使用說明書

該公司產品分類：臭氧檢測儀轉速表測振儀激光測距儀超聲波測距儀超聲波測厚儀涂層測厚儀超聲波流量計粗糙度儀超聲波探傷儀線纜測高儀金屬探測器耐壓絕緣測試儀 LCR測試儀靜電檢測儀絕緣電阻測試儀靜電電壓表接地電阻測試表面探頭液體探頭

涂鍍層測厚儀型號:M303497

貨號:

詳細介紹： BSK-05-TT220數字式涂層測厚儀采用磁性測厚法，它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量。可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。主要功能: 可對測頭進行基本校準；可進行零點校準及二點校準；設有五個統計量：平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(NO)、標準偏差(S.DEV)。可存貯和統計計算15個測量值。具有兩種測量方式：連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)。自動關機功能。刪除功能：對測量中出現的單次可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量。操作過程有蜂鳴聲提示。有欠壓指示功能。有錯誤提示功能。技術參數：測量范圍（µm）待測基體最小曲率半徑（mm）基體最小面積的直徑（mm）基體最小面積的直徑（mm）低限分辨力（µm）示值誤差（µm）零點校準二點校準 0~1250 凸1.5 凹9 Æ7 1 ±（3%H+1） ±[（1%~ 3%）H+1] 基本配置 TT220主機 1臺標準樣片 5片標準基體 1塊充電器 1個選購件 TA230打印機 1臺 TA510線纜 1根

鍍層測厚儀

CMI900 無損電鍍膜厚測試儀，鍍層測厚儀專業測量金、銀鈀銠鎳銅錫等貴金屬多鍍層膜厚測量，快速無損，業內廣受好評，客戶應

用廣泛在五金連接器 PCB LED支架等行業以形成行業測量的標準。歡迎廣大五金連接器客戶聯系測量量樣品洽談往來本公司經營多年工程師經驗豐富，商業合作個方式靈活。

金屬鍍層厚度測量，例如Zn；Cr； Cu； Ag； Au；Sn等合金（兩樣金屬元素）鍍層厚度測量，例如： SnPb； ZnNi；及NiP（無電浸鎳）在Fe上等合金（三檬金屬元素）鍍層厚度測量，例如： AuCuCd在Ni上等雙鍍層厚度測量，例如：Au／Ni在Cu 上； Cr／Ni在Cu上；Au／Ag在Ni上；Sn／Cu在黃銅上等雙鍍層厚度測量（其中一層是合金層），例如： SnPb／Ni或Au／PdNi在青銅上等三鍍層，例如： Cr／Ni／Cu在塑膠或在鐵上

PCB LED 連接器等行業 gold flash/ Nip / Cu 或 Au / Pdni / Cu ~~ Ag / Ni / Cu / Ni / Cu 等常見應用

儀器介紹CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域

，為產品質量控制提供、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了對CMI900主機的自動化控制， PCB 五金 LED 連接器表面處理等行業技術參數：CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行業A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。B ：精確度領先于世界，精確到0。025um （相對與標準片）C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X

-bar/R圖等多種數據分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀

該公司產品分類：光譜儀膜厚測試儀